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多通道半导体参数测试盒

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2024-12-01北京市
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光电测试仪器
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多通道半导体参数测试盒
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应用范围

器件/电路I -V 特性测试

器件/电路辐照效应测试

器件/电路C-V 特性测试

器件/电路可靠性测试

器件/电路高温测试

 

扩展应用

多引脚封装器件测试

多器件HCI 测试

器件温度-电压电流特性自动测试

功率器件I-V 特性测试

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