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LET-2000D 半导体功率器件动态参数测试系统
具体成交价以合同协议为准
2026-06-30深圳市
- 型号
- LET-2000D
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产品简介
LET-2000D系列半导体动态参数测试系统是力钛科公司开发出的满足IEC60747-8/9标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试，LET-2000D有着较高的系统带宽和测试精度，可以有效准确的测量出实际的器件参数。
详细信息
系统概述
LET-2000D系列是力钛科公司结合Lecroy的产品特点和优势开发出的满足IEC60747-8/9、JESD2标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试， LET2000D有着较高的系统带宽和测试精度，可以有效准确的测量出实 际的器件参数。
系统组成
(1)力钛科动态参数分析仪，主要包括PC、示波器、低压源、高压直流源、探头以及相关测试配件等构成。
(2)LET-2000半导体测试系统采用12bit示波器，可正确反应波形细节和参数的准确计算，且具备高带宽的电压和电流探测特点，能满足SiC/GaN的测量要求，同时可以满足上/下管测试要求，可避免频繁连接探头。该系统测量参数齐全，且支持多种器件类型。
系统参数
采集带宽 | 500MHz/1GHz |
采样率 | 10 GSa/s |
母线电压 | 5-2000V，可选4000、6000V，±0.2%最大量程 |
电压测量 | 标配最大2000V，精度2%量程 |
电流测量 | 标配300A，精度±2% |
短路电流 | 2000A-10000A |
驱动电压 | ±24V |
测量参数 | Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等 |
测量项目 | 开关参数、短路参数、反向恢复参数、雪崩能量测试等 |
测量器件 | 单管/模块、MOSFET、IGBT、FWD、SiC、GaN |
脉宽 | 20ns~1000us |
脉冲数 | 单脉冲、2-5脉冲 |
测量标准 | IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173 |
采集系统的主要工具
主要特点
● 带宽500MHz、1GHz
● 最佳系统精度 1.5%
● 高达 160dB CMRR光隔离探头
● 12位示波器的精密增益校准保证最佳的结果
LET-2000D的应用
功率半导体的来料检验
功率半导体的动态参数验证
实验室的器件评估
实验室的驱动设计改善
实验室的PCB设计评估
功率半导体的生产检验和筛选
优势
动态参数测试系统硬件优势
■ 采用力科的12 bit 示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数 |
■ 采用力科的光隔离、高CMRR探头系统，解决SIC/GAN的 测试难点 |
■ 高带宽的电压和电流探测，弥补一般系统对SIC/GAN的测量要求 |
■ 可以满足上/下管测试，避免频繁连接探头 |
■ 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展 |
■ 器件驱动设计支持SIC/GAN器件 |
■ 系统带宽：>400MHz |
■ 系统可根据客户需求定制 |
动态参数测试系统软件特点
■ 测量参数齐全：开关参数、短路参数、反向恢复参数、雪崩测试 |
■ 支持器件类型多：单管/模块、MOSFET、IGBT、FWD、GTR … |
■ 测试方式：单脉冲、多脉冲 |
■ 离线数据分析：既可以在线测量，也可以记录数据离线分析 |
■ 可灵活设置测试项目 |
■ 软件具有较强的扩展能力 |
■ 测量项目及器件支持扩展 |
软件界面
软件特点：直观易用、视觉统一、反馈及时、操作高校
测量功能
LET-2000D软件测量开关参数、反向恢复参数、短路参数的上下管图示。
测试项目
参数分类 | 参数符号 | 参数说明 |
一般参数 | Vge/Vgs | 驱动电压 |
Vce/Vds | 漏-源电压 | |
Vce/Vds pk | 开关电压最大值 | |
Ic/Id pk | 导通电流最大值 | |
开关参数 | td(on) | 启动延迟 |
Tr | 上升时间 | |
Ton | 启动时间 | |
Eon | 开能量 | |
td(off) | 关闭延迟 | |
Tf | 下降时间 | |
Toff | 关闭时间 | |
Eoff | 关能量 | |
dv/dt | 电压变化率 | |
di/dt | 电流变化率 | |
反向恢复参数 | Trr | 反向恢复时间 |
Irr | 反向恢复电流 | |
Qrr | 反向恢复电荷 | |
Err | 反向恢复能量 | |
Id vs t | 反向恢复电流特性 | |
Vsd | 寄生二极管正向导通电压 | |
短路参数(选件) | di/dt | 电流变化率 |
Tsc | 短路时间 | |
Iscm | 短路饱和电流 | |
Esc | 短路能量 | |
Psc | 短路功率 | |
雪崩能量测试(选件 | EAS | 单脉冲雪崩能量 |
Vav | 雪崩电压 | |
Tav | 脉冲时间 |
订购
LET-2000D系列订购信息>>>
| 型号 | 测试芯片种类 | 采集带宽 | 最大电压电流 |
LET2054D | 单管 | 500MHz | 2000V、300A |
| LET2054DM | 模块 | 500MHz | 2000V、300A |
| LET2104D | 单管 | 1GHz | 2000V、300A |
| LET2104DM | 模块 | 1GHz | 2000V、300A |
LET-2000D系列订购信息>>>
| 型号 | 说明 |
| LET-SCD | 短路测试功能，含驱动板 |
| LET-QGD | 栅极电荷测试功能，含驱动板 |
| LET-EAS | 雪崩能量测试功能，含驱动板 |
| LET-TEMP | 器件温度特性 |
| LET-GISO | GAN光隔离探测，含驱动板 |
| LET-HV40 | 电压4000V，含驱动母板、探测系统 |
| LET-HV60 | 电压6000V，含驱动母板、探测系统 |
| LET-HC06 | 最大电流600A，含驱动母板、探测系统 |
| LET-HC12 | 最大电流1200A，含驱动母板、探测系统 |
| LET-HC30 | 最大电流3000A，含驱动母板、探测系统 |
| LET-M34 | 34mm模块支持，含驱动板 |
| LET-M62 | 62mm模块支持，含驱动板 |
| LET-1B | EasyPack 1B模块支持，含驱动板 |
| LET-2B | EasyPack 2B模块支持，含驱动板 |
| LET-P1M3 | EconoPIM3 模块支持，含驱动板 |
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