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JIMA RT CT-01B分辨率测试卡
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2024-09-25深圳市
- 型号
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产品简介
JIMA RT CT-01B分辨率测试卡用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
详细信息
JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT CT-01B分辨率测试卡（专用于三维CT系统分辨率测试）
测试卡封装在一个防护盒中
图案布局：T型
线/空间尺寸：5种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
JIMA RT RC-04分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm
图案布局：T型
线/空间尺寸：32种规格图案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
JIMA RT RC-05B分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
图案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
线/空间尺寸：16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
JIMA RT CT-01B分辨率测试卡（专用于三维CT系统分辨率测试）
测试卡封装在一个防护盒中
图案布局：T型
线/空间尺寸：5种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
JIMA RT RC-04分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm
图案布局：T型
线/空间尺寸：32种规格图案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
JIMA RT RC-05B分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
图案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
线/空间尺寸：16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
SAG:JIMA RT CT-01B, RT CT-01B分辨率测试卡,RT CT-01B,JIMA测试卡
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