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Introspect T-CON及LVDS测试解决方案
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2024-03-14深圳市
- 型号
- Introspect
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产品简介
Introspect T-CON及LVDS测试解决方案的产品资料:
高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片的测试解决方案_Introspect Tx/Rx LVDS测试解决方案（支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate）
详细信息
高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片的测试解决方案_Introspect Tx/Rx LVDS测试解决方案（支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate）
高速多通道信号发生器在LVDS to T-CON(时序控制器)及中大尺寸显示屏驱动芯片的测试解决方案
Introspect Tx/Rx LVDS测试解决方案（支持共模电压调整，+-4.5% Modulation rate）
附件及如下是关于Introspect T-CON及LVDS测试解决方案的产品资料及主要功能介绍，目前Introspect的产品已经广泛应用在很多DDIC及芯片的厂商用于T-CON多通道等产品测试验证上。
Introspect SV1C/SV3C系列产品五大亮点:
1.每个通道具备独立注入抖动能力
2.每个通道具备调整Skew能力
3.可调整共模电压幅值(VCOM)
4.可编程客制化码型
5.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation
T-CON及LVDS测试解决方案:
Introspect LVDS PG的主要优势:
1. 可以透过PG直接发图片
2. 支持及满足共模电压测试要求
3. ±4.5% SSC功能的支持
其他优势类似于CDPHY PG和BERT的功能
4.It can completely replace the Tec DTG 5334 and has a price advantage of small size and excellent preparation
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