清和光学制作所M.Plan APO1.5XHR物镜SEIWA OPTICAL

清和光学制作所M.Plan APO1.5XHR物镜SEIWA OPTICAL

物镜，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XHR，M.Plan APO10XHR，M.Plan APO1.5XHR，M.Plan APO2.5XHR，M.Plan APO5XS，M.Plan APO10XS，M.Plan APO20XS，M.Plan APO50XSBS，M.Plan APO100XSBS，近红外物镜PE IR Plan 1X，PE IR Plan 2.5X，PE IR Plan 10X，PE IR Plan 20X，PE IR Plan 50X，PE IR Plan 100X，PE IR 10X 2000 HRS，PE IR 20X 2000 HRS，PE IR 50X 2000 HRS，NUV Plan APO 20X，NUV Plan APO 50X，DUV Plan 20X，DUV Plan 50X，迈克尔逊干涉物镜MIF-2.5X-FD10.2，MIF-5X-WD26，MIF-5X-ULWD

产品介绍

兼容宽视场（φ33mm）的M.PlanAPO物镜系列

M.PlanAPO※※xHR系列 这是M.PlanAPO物镜系列，支持超宽视场（φ33mm），兼容

像素分辨率越来越高的相机。请 成像管MS-配合使用200-TCD33。

M.PlanAPO物镜系列

近红外物镜1100nm-1600nm

PE IR平场物镜系列

用于光发射的近红外物镜

长工作距离、高分辨率物镜，在近红外区域具有高光谱透过率。

它可用于透过硅观察晶圆的背面或作为光电发射故障分析的透镜。

20X 和 50X 可以连接到我们的显微镜 PS-888L 上，并与 YAG 激光器（波长 1064nm）配合使用

进行激光修复。

近红外物镜2000nm

PEIR2000HR 10X/20X/50X

近红外 2000nm 兼容物镜

PEIR10X-2000HR 2023 年 10 月新发布

物镜在 2000nm 处保持 75% 或更高的透过率。

在半导体器件故障分析中，可有效检测由于电流泄漏而导致的极弱发光。

使用从芯片背面穿过硅的红外光可以观察高度集成的多层半导体器件。

*可进行硅校正。请联系我们。

近紫外物镜 355nm

NUV Plan APO20X/50X

近紫外物镜

用于明场观察的长工作距离物镜。

该物镜经过校正，可聚焦在可见光范围和近紫外 355nm 中使用的波长。

它被设计为在近紫外区域具有高光谱透射率，当连接到显微镜并与 355nm YAG 激光器配合使用时，它非常适合半导体电路和 LCD 修复等薄膜加工。

紫外物镜266nm

DUV Plan 20X/50X

近紫外物镜

用于明场观察的长工作距离物镜。

该物镜经过校正，可聚焦在可见光范围和近紫外 266nm 中使用的波长。

它被设计为在近紫外区域具有高光谱透射率，当连接到显微镜并与266nm YAG激光器配合使用时，

它非常适合半导体电路和LCD修复等薄膜加工。

迈克尔逊干涉物镜

MIF 系列

迈克尔逊白色干涉物镜

这是一款与白色干涉仪配合使用的物镜。

内置分束器和参考镜与聚焦位置的样品图像一起

提供与样品高度差相对应的干涉条纹。