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BeamOn X光斑光束分析仪

具体成交价以合同协议为准

2024-02-25
型号
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含油分析仪
产品简介
BeamOn X光斑分析仪,又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪,是DUMA激光光斑分析仪中基于CMOS成像原理的一款设备,具有良好的成本效益。
详细信息

高分辨率BeamOn X光斑测量仪,7.4 mm x 5 mm靶面,像素尺寸2.4 um

BeamOn X光斑分析仪,又可称为BeamOn X光斑测量仪或BeamOn X光斑光束分析仪,是DUMA激光光斑分析仪中基于CMOS成像原理的一款设备,具有良好的成本效益。另外,该设备属于CMOS光斑分析仪,采用快门技术,带有1/1.8英寸的检测区域,配套的软件界面友好,使用方便,能实时检测和显示光束轮廓、光斑椭圆度情况。


BeamOn X光斑测量仪的特点:

-测量光斑尺寸低至30微米

-CMOS成像

      -光斑椭圆度

-准确质心定位,测量光束轮廓和能量分布

-高帧率——50 Hz

      -光谱范围——350-1310 nm

BeamOn X光斑分析仪外观图片



BeamOn X CMOS光斑分析仪可检测激光规格:

规格

参数

光束类型

连续光或脉冲光

光束尺寸

⌀30 um-⌀4.5 mm

光谱响应范围

350-1310 nm


BeamOn X光斑检测仪产品规格:

型号

BeamOn X

传感器类型

CMOS

尺寸1/1.8英寸

传感器探测面积(mm)

7.4(长)x 5(高)

分辨率(像素数量 长 x 高)

3096 x 2080

像素尺寸

2.4 um x 2.4 um

像素位深

10/14 bits

光束宽度分辨率

1微米或者更好

损伤阈值

带衰减片50 W/cm2

灵敏度

激光波长633 nm时,0.5 nW/cm2

激光波长1310 nm时,15000 nW/cm2(15 uW/cm2

饱和度

不带衰减片1 W/cm2

产品尺寸(长 x 宽 x 高)单位mm

⌀63 mm x 51 mm宽

重量(典型)

带光缆300 g

机械接口

Post mounting:8-32UNC,6 mm宽

运行温度

0 °-35 ℃

定位分辨率

1 um

光束宽度精确度

±2%

动态范围

60 dB

曝光速度(可调节)

32 us-2 s

帧率

50 fps - 高达450 fps @fast mode(8 bit + ROI)

功率测试

在选定的点上进行用户预校准

去除背景噪声

自动

Trigger

内部软件

功率需求

~2 W(通过USB3.0接口)

(计算机)硬件要求

CPU i5 1.6 GHz,4 GB内存

分辨率1366 x 766

接口

USB3.0,Windows 7/8/10(32&64 bit)



    BeamOn X光斑测量仪能测量光束直径30 um - 4.5 mm的连续光或脉冲光,定位分辨率高达1 um。光束经由CMOS光斑分析仪系统成像后,软件界面将显示光束轮廓和能量分布,同时还提供质心定位、光斑椭圆度、光束尺寸数值。质心定位、光束尺寸在BeamOn X光斑光束分析仪检测过程中得出,能量分布通过颜色变化情况和能量曲线来辨别。在一定的能量强度的范围内,激光光斑分析仪系统还能测量出光斑椭圆度、长轴、短轴数值。为了保障BeamOn X光斑光束分析仪不因激光功率过高而导致设备故障,激光的功率密度应远低于损伤阈值。

 

订购信息:

Model BEAMON-X-E-FW:350-1310 nm,带衰减片转轮,转轮内含3片衰减片(NG4NG9NG10

Model BEAMON-X-E:350-1310 nm,不带衰减片转轮

一套完整的激光光斑分析仪系统包括一台BeamOn X光斑分析仪(含连接线缆)、一根支柱、系统软件(存于CD/U盘)、一个小提箱。


Model BEAMON-X-E-FW光斑检测仪尺寸图



Model BEAMON-X-E光斑检测仪尺寸图



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