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微焦点X射线检测系统(半导体、电子元器件、电池-WJD-100

具体成交价以合同协议为准

2023-12-19温州市
型号
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产品简介
适用于BGA、CSP、Flip、chip的检测
详细信息

适用于BGA、CSP、Flip、chip的检测,PCB板焊接情况检测,短路、开路、空洞、冷焊 IC封装检测,电容、电阻等元器件,金属材料、介质材料的内部缺陷,轻质材料的内部结构以及组件 , 电热管、锂电池、珍珠、精密器件等

技术参数

高频高压装置
高压逆变频率:40 KHz
管电压调节范围:20~100 KV
管电流调节范围:10~500μA
额定管电流:500μA
焦点尺寸:50μ
冷却方式:风冷
系统分辨率大于50LP/cm
放大率240倍
机械检测平台
检测平台可沿X-Y-Z三轴移动,倾斜40度。
有检测电气元器旋转架。
X轴260mm
Y轴260 mm
Z轴200 mm

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