Hi-Q光学测试测量系统

　　详细内容

　　美国OEwaves公司的HI-Q光学测试测量系统提供了自动化地测量连续激光器或激光光源的超低相位噪声测量。这个光学测试测量系统能够快速地测量激光相位噪声，评估其线宽的半高宽度低至< 3 Hz,而无需复杂的测试架构和参考激光即可作这样的窄线宽测量。

　　该系统在宽带测量方面是无二的，它不要求另外的低噪声参考激光光源。该系统操作简单、方便、快速、精度高，且无需附加额外的测试设备。这台无二的超低相位/频率噪声分析仪可扩展到不同的输入波段，并用于低相对强度噪声测量。

　　特点：

　　▪ 超低相位/频率噪声测量

　　▪ 快速实时测量

　　▪ 即刻和扩展的FWHM线宽分析

　　▪ 不需要低噪声参考光源

　　▪ 用户友好界面

　　▪ 简单的基于PC的操作

　　▪ 3U x 19英寸机架系统

　　▪ 可定制的配置、升级和选项

　　可选择的配置：

　　▪ 在630 nm - 2200 nm范围内多个输入波段

　　▪ 超低噪声基底

　　▪ 相对强度噪声测量

　　▪ 扩展的偏移频率范围可达2 GHz

　　▪ 扩展的输入功率范围

　　▪ 远程操作

　　▪ 性能和频率

　　▪ 定制范围选择和升级