$item.Name

首页>分析检测>水分测定仪>露点仪

参考价:

  • 面议
真尚有_10nm光谱共焦位移传感器 | 10um光斑 ±0.02%线性度 | EVCD10

具体成交价以合同协议为准

2023-11-14深圳市
型号
深圳真尚有科技有限公司

免费会员 经销商

该企业相似产品
测厚传感器,激光位移传感器,电容位移传感器,涂层测厚传感器
产品简介
EVCD10光谱共焦位移传感器通过高品质光学镜头沿着光轴在不同距离而非单个点上聚焦白光,所有的可见光波段都在焦点上。这种多功能的光学传感器为测量技术开辟了新的维度。可达到0.02%FS的线性度。EVCD10光谱共焦位移传感器是基于色散共聚焦原理来测量位移或厚度的仪器,控制器通过一根专用光纤和测量头连接。接入电源为24V DC,通过以太网接口进行数据输出。其编码器接口可 以外接3路增量式单端光电编码......
详细信息
- 主要特点-

EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器特点:

(1)、超高精度±0.02% F.S.)和分辨率(2nm

(2)、光斑更小(最小2um)

(3)、测量值无平均化处理

(4)、高稳定性,透明物体,镜面物体,高光亮金属均可以检测

(5)、厚度测量能力,可同时输出多层厚度及位移值

(6)、具有超大角度测头LHP4-Fc,角度特性±45°

(7)、专门针对自动化应用提供丰富的通讯接口

(8)、提供使用所需配件,DC 24V 3A电源,以太网连接线,IO触发线

(9)、创新技术,彩色光谱共焦:突破常规LED光源亮度分布不均匀局限,全量程精度更高,稳定性更强。半峰宽比常规型小1/2以上, 采样精度是常规性型1.33倍。

(10)、直接测量玻璃或半透明物体厚度



-应用领域-

EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器应用领域:

可用于透明,半透明物体测厚,高精度距离、厚度检测


- 技术规格-

EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器技术规格:

- 测量原理-

EVCD10 10nm光谱共焦位移传感器测量原理:

白光光源①发出白光,经过光纤分路器③进入光纤传导,再通过针孔④白光到达色散物镜⑤,在被测物一侧产生色散,由于波长不同,只有焦点在被测表面上的光才能被反射透过针孔④, 进入针孔④后方的光谱分析仪②。焦点在被测表面上的光波长在光谱分析仪中体现为峰值,由光谱仪的光谱分布可以判断被测物体的高度。

相关技术文章

同类产品推荐

企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
提示

仪表网采购电话