x射线荧光光谱分析仪供应

x射线荧光光谱分析仪供应技术参数：

激发源                  高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗                                        

电压及功率         40 kV, 40 W                                                                                

探测器                 大面积正比计数器，1100 mm²感应面积                             

光斑尺寸             准直器交换器，0.3 mm或以上                                              

样品观察            高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍                               

样品台                马达驱动Z方向样品台，自动对焦。                                      

                           选项：马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能 

定量分析             块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型      

                             镀层分析：基本参数法模型                                                   

电源：               110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率100 W                        

尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm                                                          

重量                  46 kg   

                         M1 MISTRAL（SDD）

激发源             高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗

电压及功率     50 kV, 50 W

探测器             电制冷高性能XFlash® 硅漂移探测器，30 mm²感应面积，对Mn-Ka能量分辨率小于150 eV

光斑尺寸         准直器交换器，0.5 mm或以上

样品观察         高分辨彩色摄像系统，放大倍数20-40倍

样品台             马达驱动X-Y-Z样品台，自动对焦，便捷进样功能。

定量分析         块状样品：基于标样的经验系数法模型和无标样模型

                         镀层分析：基本参数法模型

电源：             110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率120 W

尺寸（宽x深x高）550 x 700 x 430 mm

重量                50 kg

x射线荧光光谱分析仪供应采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。分析的样品类型：各种不同的材料，如金属、合金、金属镀层包括多层镀层样品。样品尺寸zui大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。光管位于样品上方，测量过程中不接触样品，因此可以很容易地分析复杂式样的样品，如精工细作的珠宝或不同厚度的样品。