X-Met3000TXS+提供对土壤的快速、可靠的现场分析,实现对污染物质的识别和成份分析。在土壤清理工程的前期阶段使用X- Met3000TXS+对未知样品的快速筛选性分析可显著节省整个工程的成本。用X-Met3000TXS+获得的谱图可使后续的分析工作更有针对性。 经验值校准方法用于需要的分析精度的场合,例如,分析样品中的低含量元素时。仪器出厂时已对主要的污染元素进行预校准。也可以方便地使用现场的样品来对仪器进行校准,以达到的分析准确性。 广泛的含量范围,被分析样品类型不受任何限制。含量范围从99%到ppm(g/l)级。分析可直接对土壤样品表面进行,也可在地表进行。可直接分析固体、粉末、液体、滤纸中的空气微粒、擦拭药签、各种设备表面、涂镀层、植物等。 快速、简单的分析--室内或室外。X-Met3000TXS+可用于污染土壤的预先筛选也可用于土壤清理工程的后续分析。分析的过程非常简单:将分析头直 接对准样品(现场测量),或将样品包放入分析容器中(现场实验室测量),扣动仪器开关,读取结果。无需预先知道样品组成的信息。 通常在土壤分析中,最重要的元素为Pb、As、Cr、Cu、Zn、Ni、Cd、Co、Se、Mo及Sb。 请点击左边相关标题,下载关于该产品的PDF格式文件。 产品信息: 实验室中的桌面操作,提供使用特殊的样品包容器或特殊样品杯,样品可放置于塑料袋中。通过有效的扫描和分析确定污染程度。 可同时分析土壤中的所有有害元素。无需样品准备(现场分析)或只需将样品放置在塑料包中(现场实验室分析)。只在分析样品中含量低于100ppm的元素时 需要额外的样品准备工作。典型的分析时间为15秒到300秒,取决于要求的性能、具体应用及感兴趣的元素。结果可以马上获得并存储在计算机中进一步处理。 可选配样品检测支架 牛津仪器新推出可选配样品检测支架,该支架采用全封闭样品槽设计,可进一步提高仪器操作的稳定性和辐射安全性。 |