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TA410系列LECCOMPANY辐射温度计LX-200系列
TA410系列LECCOMPANY辐射温度计LX-200系列
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产品介绍
LX200系列
LX-200 是一款非接触式温度计,虽然体积小,但具有温度显示功能。高速响应是可能的,因为它使用光学传感器测量 40 至 1000°C。显示清晰,因为它使用有机EL。内置目标光束,发射与测量区域大小相等的光束。
特征
带有集成显示屏的手掌大小的辐射温度计。
直接输入各种设置。
带有内置高亮度 LED 的目标光束。
采用光学响应传感器实现高速响应。
EL 图形显示易于查看和设置。
配备三脚架和安装螺丝,从实验到出厂级别均可使用。
L-1000系列
现在可以直接用SET键设置闹钟了。这允许您将人类感官转换为设定值。是一种规格简单、性格特殊的产品。(除光束功能外,设置值在 LOCK 状态下受到保护。)
特征
配备了将显示值直接设置为警报的功能。
可以通过玻璃测量温度。
系列可测量 140 至 3000°C 的温度。
可保存10种不同设定值的花样。
准直光束采用高强度 LED,提高了可见度。
模拟输出4-20mA、0-10V为标准设备。
RS-232C 和蓝牙可作为数字输出选项。
如果选择功能有限且集成光纤的传感头,价格会有所降低。
L-2000系列
L-2000 是一款双色温度计,配备了 InGaAs 和 Si 两种不同波长的传感器。
通过使用两种类型的传感器,这种温度计不太可能受到视力丧失、灰尘、烟雾等的影响,当然也可以透过
传统玻璃测量温度。
达到0.05秒,可以说是双色体温计的超高速响应。感受速度。
特征
不易受到视野缺陷、灰尘、窗户上的污垢、烟雾等的影响。
实现0.05秒的高速响应。
可进行最小φ0.2的微小表面测量。
测量温度范围广,从 600 到 2000°C。
透过玻璃测温当然OK。
IGA系列
IGA是一种高精度光纤红外辐射温度计。温度测量范围为200~3000℃,温度范围可从6档中选择。非常适合透过玻璃进行测量、锻造/铸造中的温度控制以及高频加热线中的温度控制。
特征
可以通过玻璃测量温度。
52mm测量距离可测量φ0.2mm的微小区域。(使用 SH-7C-60 传感器头时)
0.005秒的高速响应。(选项)
由于它是光纤类型,因此可以抵抗电噪声。
目标光束灯使用高亮度 LED
KTL系列
适用于测量φ0.4以上微小区域温度的高速响应、高精度红外线辐射温度计。可广泛用于真空加热炉的温度控制、芯片钎焊、模具温度控制、利用高速响应性的高频加热线的温度控制等。
特征
可以测量 φ0.4mm 以上的微小区域。
0.01秒的高速响应。
可以透过玻璃进行测量。
标配 RS-232C、0-10[V]、4-20[mA] 的 3 路输出。
配备Windows标准测温软件。
除正常峰值保持外,还配备自动重置峰值保持。
您可以轻松控制线上的温度。
FL-8系列/SL-9系列
FL-8是一种使用氟化物红外光纤的非接触式辐射温度计。
它可以测量低温和微观表面,使其适用于测量镜面材料的表面温度。(SL-9系列使用石英纤维。)热电堆是一种热响应传感器,一般用在低温侧,但与热电偶一样,也有响应速度慢的缺点。FL-8使用PbS光学响应传感器实现0.01秒的高速响应。有很多应用,如金属轧辊和铝的挤压、焊接、模具的温度测量等。您也可以透过玻璃进行测量。
特征
可以进行φ1mm的微点测量。
内置光束可以轻松查看目标。
以 0.01 秒的高速响应立即捕获温度。
各种内部设定值都保存在非易失性存储器中,不用担心丢失。
温度显示器是一个大型数字 LED 显示器。
OPM系列
OPM是一种光纤温度控制器,集成了高速响应非接触/辐射温度计和控制器。通过根据加热状态设置滤波器,可以执行各种加热控制,例如平滑和间隔时间的峰值显示。主机为DIN144尺寸,可安装在面板上,光学传感器头较小,无需担心安装空间。此外,通过采用直接 SV 键,可以一键式记忆和再现工程师眼睛捕捉到的温度。适用于铸造和锻造的温度控制、熔化炉和真空炉的测量以及框架的钎焊控制。
特征
可以以0.05秒的高速响应进行控制。
可以存储 10 个模式,用于设置、定时器和发射率。(OPM 有 8 种模式)。
内置光束可以轻松查看目标。
0-10V、4-20mA 输出 ZERO/SPAN 以及可任意扩展的 RS-232C 输出也是标准设备。
内置定时器简化了系统操作。
根据测量距离和测量区域,可提供多种传感器头。
每个模式可以设置 4 个继电器输出。
TA410系列
无需接触物体即可测量表面温度的辐射温度计。
特征
根据应用、目标对象和测量温度提供三种类型。
纤薄且易于握持,140 克的轻巧机身设计。
0.8秒的响应速度,可进行快速测温。
2 点激光刻印机窄视场高温型 (TA410NH) 可测量 1000°C。
点标记型 (TA410S),用于基板上零件的微表面测量。