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作为现成的测量解决方案,PD1500A 可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。该平台不仅可以确保用户的安全性,还能够保护系统的测量硬件。
这种确保 DPT 结果可重复的能力依托于是德科技*的专业测量技术,例如在高频测试(GHz 级)、低泄漏(飞安级)和脉冲功率(1,500 A 电流、10 μs 分辨率)等方面的创新。这些创新使是德科技占据优势,可以有力地帮助您克服在动态功率半导体表征方面的挑战。
PD1500A 采用的均是标准的测量技术,例如探头补偿、偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。这些技术已在创新的测量拓扑和版图中使用。另外,我们专门为本系统开发了半自动校准例程(AutoCal),用于校正系统增益和偏置误差。该系统还使用去嵌入技术来补偿分流器中的电感寄生效应。
JEDEC 是为微电子行业开发开放标准和出版物的。JEDEC 委员会在广泛的技术领域着产业标准制定。
JEDEC 委员会:JC-70 宽带隙电力电子转换半导体
JEDEC 标准认识到为功率半导体行业制定 WBG 标准的需求十分迫切。2017 年 9 月,JC70 宽带隙电力电子转换半导体委员会成立,负责制定 GaN JC70.1 和 SiC JC-70.2 标准。每个领域都有三个任务组,专注于开发可靠性和鉴定程序、数据手册元素和参数,以及测试和表征方法。
是德科技积极参与这些标准的开发工作。
随着 JEDEC 继续定义 WBG 器件的动态测试,某些标准化测试开始出现。Keysight PD1500A DPT 确定了这些关键性能参数: