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CS4800 提供高质量的 SEM 成像、改进的测量精度以及快速、自动化的操作,旨在提高现有生产线的生产力和运营效率,并提高客户的过程控制能力。此外,CS4800 可以配置为处理两种不同的晶圆尺寸,客户可以将其切换到新的晶圆传输系统。日立分析仪器计划扩大对碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) 等各种晶圆材料的支持,以满足客户对新型半导体或电子设备的多样化需求。
随着 CS4800 的开发,日立分析仪器将为广泛的 4、6 和 8 英寸晶圆厂提供可持续的 CD 测量解决方案,并将支持物联网应用、可穿戴设备和下一代的新兴技术设备功率器件。
测量精度 | 1 nm (3σ)(使用日立标准晶圆) |
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晶圆尺寸 | 直径 100、150 和 200 毫米 |
自动装载机 | 2个端口 |
设备尺寸(主体)以毫米为单位 | 1180(W) × 2500(D) × 1990(H)mm |