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参考价:

起订量:

  • 590
  • ≥1件
SM-114LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐

具体成交价以合同协议为准

2024-10-08东莞市
型号
SM-114LW
参数
产地:进口 加工定制:否
东莞市高腾达精密工具有限公司

中级会员5经销商

该企业相似产品
加工中心;数控车床;放电打孔机;投影仪;三座标测量机;推拉力计;扭力扳手;扭力起子;放大镜
产品简介
SM-114LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐
型号:SM-114LW
测量范围:0〜10mm
最小刻度:0.01mm
测头:上、下均为3.2mm球形测头
主要用于测量镜片凹凸处的最大厚度
详细信息

SM-114LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐

型号:SM-114LW

测量范围:0〜10mm

最小刻度:0.01mm

测头:上、下均为3.2mm球形测头

主要用于测量镜片凹凸处的最大厚度



表盘式厚度表 测头:


表盘式厚度表 规格:

 

型号

最小刻度
mm

测量范围
mm

精度
um

平面度
um

表盘刻度

测量力

上测头

下测头

重量

测头参考图片

SM-114

0.01

10

±15

5

0-50-100

2.5N以下

φ 10平测头

φ 10平测头

270

标准型

SM-114LS

0.01

10

±15

0-50-100

2.5N以下

φ 3.2球测头

φ 10平测头

270

LS

SM-114LW

0.01

10

±15

0-50-100

2.5N以下

φ 3.2球测头

φ 3.2球测头

270

LW

SM-114P

0.01

10

±15

5

0-0.5-1

2.5N以下

φ 10平测头

φ 10平测头

270

标准型

 

 

型号

最小刻度
mm

测量范围
mm

精度
um

平面度
um

表盘刻度

测量力

上测头

下测头

重量

测头参考图片

SM-124

0.01

20

±20

5

0-50-100

3.5N以下

φ 10平测头

φ 10平测头

270

标准型

SM-124LS

0.01

20

±20

0-50-100

3.5N以下

φ 3.2球测头

φ 10平测头

270

LS

SM-124LW

0.01

20

±20

0-50-100

3.5N以下

φ 3.2球测头

φ 3.2球测头

270

LW

 


表盘式厚度表  别名:

表盘式厚度计、手握式厚度表、厚薄表、测厚计


表盘式厚度表  产品说明:

小刻度有0.01和0.001两种。

测量厚度可达50mm

部分量表采用陶瓷测头,与工作接触面为陶瓷,可延长使用寿命。另外,还有FE(材质为加硬SK4)和AT(材质为特殊镀层)可供选择。

根据测头的形状不同,可分为标准型和其它型,

标准型的测量力不超过2.5N,同时也可选用低测量力0.4N

SM-114LW 金属圆测头,测头尺寸¢3.2mm,用于测量金属片及不规则产品

表盘式厚度表  用途:

应用广泛,可测量纸张、头发、橡胶板、金属管、珍珠等的厚度。

SM-114LW 表盘式镜片厚度测量仪日本TECLCOK得乐

表盘式厚度表  实物照片:


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产品参数

产地 进口
加工定制
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