库仑法测厚分析仪可以用于丈量几乎一切基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。丈量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属，而基体不受影响。库仑法确保丈量结果准确、可靠，仪器运用烦琐。丈量操作由仪器的指令自主完成，操作者不需求专业学问。库仑法又是能够丈量复合镀层、多层镀层的方法。例如丈量在铁上依次镀上的铜、镊、铬等。保证一切丈量和统计数据安全可靠，可打印数据和电压特征曲线。

库仑法测厚分析仪 特性：

使用准确性高的电解退镀技术（库仑法），精确地测量多镀层的厚度

图形显示的交互方式，易于操作

适用性广泛：可测量金属和非金属底材上的镀层厚度，也适合测量多镀层厚度

提供全面的附件产品供您选择，可满足特定需求

应用：

金属和非金属底材上任何类型的金属镀层

单层或多层的镀层厚度测量

特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量

适用于 0.05 μm 至 40 μm 的镀层厚度测量