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参考价:

起订量:

  • 569000
  • ≥50台
ZT-CTH-27C 液槽浸渍式温度冲击试验箱

具体成交价以合同协议为准

2023-02-02东莞市
型号
ZT-CTH-27C
参数
品牌:正台ZTCK 适用领域:大专院校 温度范围:-40~+150℃ 温度波动度:±0.5℃ 温度均匀度:≤±1.0% 额定电压:380V 重量:580kg 产地:国产 加工定制:是
东莞市正台测试仪器有限公司

中级会员6生产厂家

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环境类仪器、力学类仪器、疲劳类仪器、纸品包装类仪器及振动试验机等
产品简介
液槽浸渍式温度冲击试验箱适应于新能源、仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化条件下反复抵于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.
详细信息

液槽浸渍式温度冲击试验箱用途:

适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验(冲击),适应于新能源、仪器、仪表、电工、电子产品整机及零部件等作温度快速变化条件下反复抵于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组无一不需要它的理想测试工具.


液槽浸渍式冷温度击试验箱满足标准:

GJB150.5-86温度冲击试验

GJB360.7-87温度冲击试验

GJB150.4-86 低温试验箱试验方法

GJB150.3-86 高温试验箱试验方法

IEC68-2-14 试验N:温度变化

GB2423.1-89 电工电子产品基本试验规程试验A:低温试验方法

GB 2423-22环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化

MIL-STD-202F美军标准,电子及电气试验方法

MIL-STD-883E美军标准,集成电路失效分析方法


主要参数

n温度暴露范围:+60℃ ~ +150℃/-65℃ ~ 0℃

n测试时间 ≥10min

n温度转换时间:≥30S

n测试方式:试样放入不同温度的液体介质中

型号

ZT-CTH-27C

ZT-CTH-56C

模式

浸渍在液体介质浴中,通过样品篮的移动到达低温或高温槽内

试验样品尺寸(mm)

130×160×130  【W*H*D】

160×160×220  【W*H*D】

预冷温度范围

-70℃~0℃

预热温度范围

+60℃~+200℃

温度冲击范围

-40℃~+150℃/-65℃~+150℃

测试时间

≥10 mins

≥10 mins

转换移动时间

≤30s

温度偏差

±1.0℃

温度波动度

±0.5℃

使用电源

 AC 3¢5W 380V  60/50Hz





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企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618

产品参数

品牌 正台ZTCK
适用领域 大专院校
温度范围 -40~+150℃
温度波动度 ±0.5℃
温度均匀度 ≤±1.0%
额定电压 380V
重量 580kg
产地 国产
加工定制
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