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Chroma 8020 配接器/充电器自动测试系统是在生产线上测试配接器与充电器的测试系统,8020可支援同时一次测试多颗待测物,大幅提升生产线产能,并且兼具Chroma 8000系统灵活的硬体架构,可选择多种硬体例如交流电源供应器、电子负载、时序/杂讯分析仪、功率表等。
8020特别针对配接器与充电器特性,量身订作并优化标准测试项目,测试效能佳,符合大量生产要求,另外,软体功能操作简单,容易使用,符合生产线需求。
Chroma 8020 测试系统已针对业界的新测试需求,扩充硬体与增加新的测试项目例如符合Energy Star要求的平均效率测试等。另针对业界未来的新测试需求,可弹性加入具有报表制作、统计分析和管理功能的Chroma 8020测试系统软体,能够产生各种测试报表,进行系统管理,满足现代化品保和生产线的需求。另外,此系统也能与制造资讯系统(Shop-Floor System)连线,以控制生产流程。
Chroma 8020 自动测试系统运行于Windows7/10以上的作业环境下,在简单易学的Windows环境下为测试工程师提供专用的电源测试系统,并且方便使用Windows资源。
Chroma 8020自动测试系统配备了针对待测物(配接器/充电器)特性优化后之标准测试项目,使用者只需在标准测试项目上定义测试条件和测试规格即可测试。优化后的测试项目涵盖了7类电源测试要求:输出特性(Output Performance)检测待测物的一般性能、输入特性(Input Characteristic)检测电源的输入参数、稳定度测试(Regulation Tests)检测待测物在输入电源和负载变化时的稳定性、时序和瞬态(Timing & Transient)测量开机及关机时的瞬时状态及各事件的时间、保护测试(Protection Tests)触发电源的保护电路、特殊测试(Special Tests)和特殊功能(Special Features)提供了测试电源的特殊功能与方法。
输出特性测试
| 输入端特性测试
| 稳定度测试
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时序以及瞬时特性测试
| 保护特性测试
| 特殊测试
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特殊功能
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Chroma 8020自动测试系统的软件平台,特别针对生产在线使用所需,整个软件功能操作简单。Chroma 8020自动测试系统的软件运行于Windows7/10以上的作业环境,为其提供了必要的外围支持。
研究发现智能型手机使用电容屏的多点触控屏幕,在充电过程中来自AC-DC充电器所产生的共模噪声电压突波在触控时进入面板,严重影响触控性能,常导致触控读取不准确或造成假性触控讯号,因此手机厂商合力制定IEC62684标准,规范电池充电器的噪声频谱规格。
IEC62684 MoU标准规范定义了行动装置充电器的共模噪声的组成成分、规格限值与量测设置建议,致茂电子共模噪声测试解决方案符合IEC62684规范要求且能快速稳定地进行充电器共模噪声量测;Chroma 80611 时序/噪声分析仪内建4Mhz低通滤波器,可滤除<250ns高频noise,符合可忽略<250ns高频noise的量测要求,搭配Chroma 8020系统达到自动化测试,满足产线快速量产测试需求。
设备 | 型号 | 应用 |
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输入源 | Chroma 6500/61600/61500 AC Source | IEC62684规范要求测试输入电压253Vac/50Hz |
高通滤波器 | Chroma设计 | 滤除50Hz基频涟波成分,且不会造成高频noise衰减失真 |
▲ 上述波形CH2含50Hz基频涟波成分,CH1为经HPF滤波后,没有造成高频noise衰减或失真 | ||
共模噪声量测仪 | Chroma 80611时序/噪声分析仪 | 内建4MHz LPF可滤除<250ns高频noise,符合IEC62684规范要求 |
与示波器量测比较
Chroma 80611 时序/噪声分析仪采用模拟电路量测方式应用于敏感的共模噪声量测,可有效排除不稳定、不连续等非预期的干扰突波,稳定正确的量测共模噪声;另外Chroma 80611的差模量测架构有别于示波器共地架构,可避免在multi-UUT测试时,待测物输出共地造成噪声特性互相影响问题。
示波器是以Digitizing方式量测,会量测所有screen上或cursor内的max峰值,包括不连续/不稳定的噪声,及并非待测物本身特性产生的不想要量测到外来的干扰噪声。
功能规格 | Chroma 80611 | 示波器 |
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Resolution | 400mV/15bit 2V/14bit | 8bit 内存长度参数设定影响量测精准度与测试时间 |
一次测试多颗待测物测试速度 | 可同时读取所有通道量测数值 | 只能单通道各别量测,逐一读取量测数值 |
通道数(台) | Chroma 80611: 10CH Chroma 80614: 4CH | 一般示波器(4CH)没有external trig埠,量测时序时,必需牺牲一个信道接AC source transition讯号 |
量测架构 | 差模量测:Multi-UUT同时测试时,可避免待测物noise特性互相耦和干扰 | 共模量测:待测物输出共地,可能造成输出特性相互影响 |