KD-TS 炉前碳硅分析仪

KD-TS炉前碳硅分析仪

主要特点：

   采用抗电磁干扰、隔尘、便携设计，操作方便。通过改进的求值方法进行工作，能自动测量重要的冶金参数，弥补“光谱”不能测准非金属元素（C、Si）之不足，以及常规分析仪器不能达到炉前分析的时间要求。

KD-TS炉前碳硅分析仪主要参数：

1、测量功能：对白口铁、灰口铸铁、球墨铸铁进行热分析。

2、测量参数：测定铁水CEL、C、Si、TL、TS、△T、△TM

判定抗拉强度Rm、硬度HB

3、测温范围：1250℃～1350℃

4、测量范围：C:2.1～4.2%  Si:0～5.0%  CEL:2.5～5.0%

5、精    度：≤±1℃ CEL±0.047% C±0.05%  Si±0.1%

6、显    示：4位LED显示 字高50mm分辨率：1℃

7、操作方式：9按键选择所需参数，其中“Auto”显示CEL、C、SI，通过旋转电位器调整si含量，通过电位器调整C含量。

8、输出方式：串行信号RS232-TTY电流环信号输出。

9、工作参数：电 源 AC 220V，50Hz;功率30W,环境温度0～50℃

10、温度补偿范围：0～15℃

11、配套样杯类型：K型

12、显示温度单位：华氏温度或摄氏温度均可设置

13、测量时间：240秒 （一般在1分45秒）

14、测量状态显示：仪表上“准备”绿灯、“测量”黄灯、“完成”红灯显示

15、仪表保护标准：IP65标准保护

16、EMC标准：执行EN50081-2及EN50082-2标准