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FSM薄膜应力仪,应力检测仪,超高温下测量薄膜应力

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2022-08-17上海
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检测仪器
产品简介
产品简介:美国FrontierSemiconductor(FSM)成立于1988年
详细信息

产品简介:

美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年,总部位于圣何塞,多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备,客户遍布,主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT)


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