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nanoSAQLA 多检体纳米粒径量测系统

具体成交价以合同协议为准

2024-04-23上海市
型号
nanoSAQLA
参数
品牌:其他品牌 产地:进口 加工定制:否
上海倍蓝光电科技有限公司

高级会员5生产厂家

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专注于光电领域仪器设备的定制开发、代理销售与系统集成业务包括仪器设备的维修和周边产品的销售,为国内科研及制造业用户提供全面的服务
产品简介
多检体纳米粒径量测系统,利用动态光散射法(DLS法)的粒径测量(粒径0.6nm~10μm)仪器。 可对应检体范围广,低浓度~高浓度类,新光学系,轻便•小型,实验室标配。实现标准1分钟高速测量。
详细信息

多检体纳米粒径量测系统

利用动态光散射法(DLS法)的粒径测量(粒径0.6nm~10μm)仪器。

可对应检体范围广,低浓度~高浓度类,新光学系,轻便•小型,实验室标配。实现标准1分钟高速测量。

<strong>多检体纳米粒径量测系统</strong>nanoSAQLA(图1)

特点

只需一台,轻松实现5检体连续测量

低浓度到高浓度都可对应

高速测量,标准时间1分钟

搭载了简单的测量功能 (1键测量)

内置非浸泡型的cell block,无分注夹杂物

搭载温度梯度功能

测量范围

粒径 0.6nm~10μm

浓度范围 0.00001~40%

温度范围 0~90℃*

多检体纳米粒径量测系统  产品规格

型号

多检体NANO粒径测量系统

测量原理

动态光散射法

光源

高出力半导体激光*1

检出器

高感光度APD

连续测量

5检体

测量范围

0.6nm ~ 10μm

对应浓度

0.00001 ~ 40% *2

温度

0 ~ 90℃ (有温度梯度功能) *3

規格

遵照 ISO 22412:2017

遵照JIS Z 8828:2013

遵照JIS Z 8826:2005

尺寸

W240 X D480 X H375 mm

重量

约18 kg

软件

平均粒径解析 (累积法解析)

粒度分布解析

(Marquardt法/NNLS/Contin法/Unimodal法)
粒度分布叠写
逆相关函数・残差plot
粒径monitor
粒径显示范围 (0.1 ~ 106 nm)
分子量计算功能

1 根据激光安全基准 (JIS C6802)级别区分,本仪器的安全级别为1级。
2 Latex120nm:0.00001 ~ 10%、牛黄胆酸:~40%
3 标准glass cell的批量测量的情况。


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产品参数

品牌 其他品牌
产地 进口
加工定制
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