XTU-50A镀层测厚仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1）搭载微聚焦加强型X射线发生器和*的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.002mm²2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm3）核心EFP算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析（钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测Ni和第三层Ni的厚度）4）配备高精密微型移动滑轨，可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测5）可同时分析23个镀层，24种元素，测量元素范围：氯Cl（17）- 铀U（92），涂镀层分析范围：氯Cl（17）/锂Li（3）- 铀U（92），涂镀层检出限：0.005μm6）人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作7）标配为2个准直器任意选择一种，最小测量面积可达0.002mm²8）配有微光聚集技术，最近测距光斑扩散度小于10%

XTU-50A镀层测厚仪应用领域

1.引线框架及电子元器件接插件检测

2.手表、精密仪表制造行业

3.汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

4.电镀液的金属阳离子检测