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Sphere-3000 光学元件反射率测量仪
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2022-04-07
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产品简介
Sphere-3000光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量
详细信息
Sphere-3000光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
仪器特点：
- CIE颜色测定 X Y色度图，x，y，L,a,b，饱和度，主波长等；
- 显微测定微小区域的反射率，物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）；
- 消除背面反射光，无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率；
技术参数：
| Sphere-3000（II型） | Sphere-3000（III型） | Sphere-3000-NIR | |
|---|---|---|---|
| 探测器 | Hamamatsu背照式2D-CCD | Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷) | Hamamatsu InGaAs探测器(制冷) |
| 检测范围 | 380~1100nm | 380~1100nm | 900~1700nm |
| 波长分辨率 | 1nm | 1nm | 3nm |
| 信噪比 | 450:1 | 1000:1 | 10000:1 |
| 相对检测误差 | ＜0.75% | ＜0.5% | ＜0.5% |
| 被测物再现性 | ±0.1%以下(380nm~410nm) ±0.05%以下(410nm~900nm) | ±0.1%以下(380nm~400nm) ±0.05%以下(400nm~900nm) | ±0.1%以下 （1000~1650nm） |
| 测定方法 | 与标准物比较测定 | ||
| 单次测量时间 | ＜1s | ||
| 精度 | 0.3nm | ||
| 被测物N.A | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | ||
| 被测物尺寸 | 直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时) | ||
| 被测物测定范围 | 约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时) 约φ30um(使用50×对物镜时) | ||
| 设备重量 | 约22kg（光源外置） | ||
| 设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
| 使用环境 | 水平且无振动的场所；温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露； | ||
| 操作系统 | Windows7~Windows10 | ||
| 软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定 | ||
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