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CMM激光扫描测头

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2022-03-10
型号
该企业相似产品
三维荧光扫描光谱仪
产品简介
CMM激光扫描测头
详细信息

测量设备 > CMM激光扫描测头



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一代激光扫描头(3D 影像测量+激光线扫描测量)
LPS50 激光扫描测头是为适应复杂形体型面测量和边缘特征的测量而开发的新一代产品。
它除了具有常规的激光扫描测量功能,还具有三维影像测量功能。尤其适合测量结构复杂,并包含孔位特征的工件,如薄壁件、钣金件等。
景深 Depth=50mm;  
最小光条宽度 L1=40mm
扫描测量速度:10752 点/秒
3D 投影测量速度: 次/秒
扫 描 测 量 精 度 :   0.025mm(3σ)
3D 投影测量精度:0.020mm(清晰边缘轮廓)
扫描测量最小点间隔: 0.06mm
激光等级: 2 级(可见红光)
标准工作距离:115mm
扫描单线密度: 768 点/线


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