利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析 一款全面强大的X射线荧光分析仪,能够检测各种大小的样品 快速、精确分析固体、液体和粉末 程控台的大样品舱方便样品摆放和测量(可选) 集成电脑节省了台式仪器的空间 高分辨率检测器使检测下限降到 应用广泛,包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析 |