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EDX45000H X荧光光谱铝 铜 合金全元素检测仪

具体成交价以合同协议为准

2022-12-23中山市
型号
EDX45000H
参数
品牌:天瑞仪器 测试范围:钠(Na)到铀(U) 测量时间:30-200s 测量精度:1 ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同) 电源电压:220V 适应范围:合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素) 产地:国产 加工定制:是 同时分析元素::一次性可测几十种元素 产品名称::X荧光光谱仪 探测器能量分辨率为::145±5eV 管压::5KV-50KV 管流::50μA-1000μA 测量对象状态::粉末、固体、液体 环境温度::15℃-30℃ 环境湿度::35%-70%
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产品简介
X荧光光谱铝 铜 合金全元素检测仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。
详细信息

X荧光光谱铝  铜 合金全元素检测仪

产品说明、技术参数及配置

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

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性能特点

超薄窗X光管,指标达到水平
数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,准度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然

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技术参数

产品型号:EDX 4500H
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
样品腔体积:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
重量:65Kg

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标准配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

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应用领域

合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

X荧光光谱铝  铜 合金全元素检测仪




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产品参数

品牌 天瑞仪器
测试范围 钠(Na)到铀(U)
测量时间 30-200s
测量精度 1 ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
电源电压 220V
适应范围 合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)
产地 国产
加工定制
同时分析元素: 一次性可测几十种元素
产品名称: X荧光光谱仪
探测器能量分辨率为: 145±5eV
管压: 5KV-50KV
管流: 50μA-1000μA
测量对象状态: 粉末、固体、液体
环境温度: 15℃-30℃
环境湿度: 35%-70%
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