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伊诺斯Innov-X Systems 新推出的移动式X系列矿石分析仪,功能强大,便于携带,是同类分析仪的基准。X系列仪器采用10W,50Kv的射线管,超大探测面的探测器,多种分析模式,6个光束滤波器,是目前市场上功能大的移动式分析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探测元素如,Y,Ba,Nb,Ta & Zr的分析。同时也很适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。
Innov-X X系列矿石分析仪系统规格:
尺寸 | 外形尺寸:328x280x380mm; 展开尺寸:328x690x460mm; 样品室尺寸:287x145x114mm; |
重量 | 26lbs;11Kg |
环境要求 | 环境湿度0~95%;环境工作温度-20℃~50℃;亮黄 |
激发源 | 0~50kV多段可选择的电压;200uA |
探测器 | 有SI-PIN;SDD;等不同的探测器可选择 |
冷却系统 | 采用了Peltier恒温冷却系统,探测器在-35℃下工作,保证仪器 |
滤波器 | 6个滤波片可自动切换 |
电压、电流 | 电压15~40kv,电流可达200uA |
电力要求 | 10~240VAC;50~60Hz, 最小电力100W |
主机供电系统 | 10~240VAC;50~60Hz交流电; 锂电池组、适配器,适配器DC输出16.4V 3A(可选项) |
显示器 | 整机一体化设计,工业级高分辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸,分辨率800*600 |
显示器固定方式 | 一体机设计,整机连体构造,可防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率 |
数据显示 | 百分比%和ppm显示元素含量,动态显示,元素可排序 |
数据存储 | 内存504M,硬盘18.6G |
处理器CPU | Intel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz,RAM504M |
操作系统 | Microsoft Windows XP ,SP2
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Innov-X X系列矿石分析仪用途:
Innov-X X系列矿石分析仪模式与元素:
可分析从镁矿(Mg)到铀矿(U)之间的83种金属矿、非金属矿、贵重金属矿、稀有金属矿等自然矿,分析范围从PPM到99%
Innov-X X系列矿石分析仪应用界面:
Innov-X X系列矿石分析仪技术性能:
1.采用10W,50Kv的射线管,具有实验室的精度,是目前世面上功能大的移动式分析仪。
2.采用多光束技术,使重金属元素、过渡元素、轻质元素的分析效果达到 只需直接接触待测物表面,即可现场确定矿石等级、元素鉴定。
3.可以检测的样品如矿石、岩石、岩芯、矿渣、碎片;土壤、 泥土、泥浆、粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层;废水、废油、等等的固体、液体物质。
4.可添加并很好地测试贵重金属元素Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd稀有元素La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm等的现场移动式分析仪。
5.工业级触摸式高清高分辨率彩色TFT触摸屏、电脑、仪器一体化密封设计,有很好的三防性能,可承受恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的室外环境中长时间稳定工作。
6.真正实现了现场快速、准确的检测,直接显示元素的ppm含量与百分比含量。
7.仪器内置风扇,散热性好,根本性解决XRF仪器存在的散热问题。
8.采用Windows XP SP2操作系统,可外接USB、鼠标、键盘、打印、INTERNET等通用外设,具有良好的兼容性。
9.超大规模的存储系统,内存504M,硬盘18.6G可存储数据高达86万组数据及图谱。
10.具有自动校准、诊断、故障报告功能,可通过INTERNET远程诊断机器故障与软件升级
Innov-X X系列矿石分析仪LOD
测试样品为匀质SiO ,无干扰元素,测试时间为120秒,LOD值单位为PPM;
多段电压、单段电压与不同元素的LOD的关系表明多段电压可以对不同的元素有很好的LOD下图为X-5000对SiO2 的120秒检测结果。
Innov-X X系列矿石分析仪:
1. 模式:Soil(3 Beam)、Mining、 2 Beam Mining
2. 硅漂移SDD探测器(Si drift)
3. 10W X射线管
4. 能测试Mg、Al、Si、P、S…