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UM-5D超声波测厚仪 UM-5D 彩屏A/B扫穿透涂层测厚仪UM-5D

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2021-11-14
型号
上海浦予工业科技有限公司

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产品简介
UM-5D主要功能:实时彩色A-扫描(LiveColorA-Scan)用户在屏幕上能直接看到彩色超声信号波型(或A扫描),这对于需要验证厚度读数是否正确的场合是比较重要的
详细信息

UM-5D主要功能:

实时彩色A-扫描(Live Color A-Scan)

用户在屏幕上能直接看到彩色超声信号波型(或A扫描),这对于需要验证厚度读数是否正确的场合是比较重要的。许多情况会引发错误的厚度读数,根据波形能找到测量误差问题所在,然后根据波形需对增益(GAIN)、消隐(BLANKING)、闸门(GATE)这三个参数做适当调整,可得到较为正确的厚度读数。

波形的用处:根据波形验证厚度读数,根据波形找到测量误差问题所在,根据波形寻求解决之道,根据波形调整参数解决测量误差问题。

增益调整(GAIN)

调整仪器对回波信号的放大倍数,允许以ldB 为单位手动增加或减少。这个功能适用对声衰减材料(比如金属铸件)的测量。

消隐功能(BLANKING)

使红色消隐条范围内的波形无效,可以略去影响测量的有害杂波,比如因材料表面粗糙或里面不均匀引起的噪声。

闸门可调(GATE)

只有回波高于闸门时,仪器才认为接收到了回波,才会有测量值。可见闸门可调的重要性,在应对低回波信号的应用中是如此(比如薄板、厚板的测量)。

红色箭头

A-扫描模式有一个红色箭头指示测量点,厚度读数就是该点的横坐标。它可帮助判断厚度读数是否正确,正确测量时,红箭头应该指向个底面回波前。

范围(RANGE)

调整显示在屏幕上的波形范围,视觉上波形被压缩或展开。如果没有正确的设置显示范围,回波波形可能出了显示区域而看不到,但仍能正确地显示测量值。

平移(DELAY)

调整显示在屏幕上的波形的起始位置,视觉上波形被水平移动。如果没有正确的设置平移,回波波形可能出了显示区域而看不到,但仍能正确地显示测量值。范围和平移功能可将波形的任一部分放大显示在屏幕上。

实时彩色B-扫描(Live ColorB-Scan)

UM-5系列测厚仪带时基B扫描功能。显示沿着探头移动轨迹的剖面图,用于观察被测工件的底面轮廓。并自动捕获一幅B扫描图像上的最小值,由红色三角指示出最小值的位置。通过移动指针还可查看B扫描图像上任一点的厚度值.

具有穿透涂层功能,不需要费时费力的去涂层工作了

我公司2005年推出了具有穿透涂层功能的UM-2D测厚仪,现在UM-5D同样具备了这一功能。该功能是通过测量基材的两个连续底面回波实现的。 该模式下其他功能:

1、免零点校准;

2、较高稳定性,测量值不受探头压力、耦合层厚度和工件表面灰尘污渍的影响;

3、没漂移。

其他功能

差值/缩减率:差值模式显示实测厚度与预设厚度之间的差值变化。缩减率是计算并显示材料变薄以后厚度缩减的百分比,应用时因弯曲而变薄的金属材料进行测量。

/最小值捕获:屏幕上同时显示当前厚度值、最小值和厚值。

UM-5D技术参数:

显示屏:2.4QVGA(320×240)彩色OLED屏,对比度10000:1
工作原理:使用双晶探头的超声波脉冲/回波法和回波/回波
标准模式测量范围:0.6至508毫米(0.025至20.00英寸)取决于所用探头、被测材料及表面情况
涂层模式测量范围:3-80mm 取决于所用探头、材料、表面状况和温度
测量分辨率:0.01或0.1mm(0.001或0.01in),
单位:毫米或英寸
增益:实时可调
校准模式:一点校准、两点校准
示值误差:±0.05mm (25mm以下) ±0.2% H (100mm以下) ±0.5% H (100mm以上) 注:H为被测物厚度
测量更新频率:每秒4HZ、8HZ、16HZ可选
材料声速范围:500-9999m/s,0.0179-0.3937in/us
示值稳定性:采用过零测量技术,厚度测量值不受回波强度材料衰减系 数、增益和闸门高度的影响,具有较高测量稳定性和准确性。
重复性:±0.05mm
增益:实时可调
显示模式:厚度值模式,最小/值捕获模式,差值/缩减率模式
V路径修正:V声程修正,补偿双晶探头的非线性度
工作语言:中文、英文、日文、德文、法文五种语言可选择
报警设置:/最小值报警,报警时动态改变厚度读数颜色
电源:两节1.5V AA电池
操作时间:两节AA电池,使用时间大于35小时
仪器关机:可选5、10、20分钟无操作后自动关机,或只能手动关机
工作温度:-10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃
尺寸:153mm×76mm×37mm (H×W×D)
重量:280g(含电池)
标准配置:测厚仪主机、标配探头、仪器箱、两节碱性电池、耦合剂 、操作手册、合格证、装箱单
选配件:橡胶外套;多种可供选择的探头;校准用阶梯试块;耦合剂及高温耦合剂



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