THICK 680系列 涂层测厚仪

技术参数
X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
X射线管：管电压50KV，管电流1mA
可测元素：Ti～U
检测器：正比计数管
样品观察：CCD摄像头
测定软件：薄膜FP法、检量线法
Z轴程控移动高度20mm
标准配置
X射线管，正比记数盒，高清摄像头，高度激光，信号检测电子电路。
应用领域
金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。

THICK 680系列 涂层测厚仪

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