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多片OLED器件IVL自动测试系统
具体成交价以合同协议为准
2021-10-27
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产品简介
在仅需大批量IVL测试而无需视角测试的情况下，可以选择多片不带视角的常温IVL测试工位，以及一个高低温控的测试工位。用于多片 OLED器件的连续IVL测试。
详细信息
在仅需大批量IVL测试而无需视角测试的情况下，可以选择多片不带视角的常温IVL测试工位，以及一个高低温控的测试工位。
软件介绍
I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长，进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长，进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值，低于下限值时仅测电流电压，超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数，下次测量时可以直接调用
I-V-L的测量数据
测量的结果包括：亮度L(cd/m2)，电流效率(mA/cm2)， 发光效率，外量子效率，色坐标(x，y)，色温，显色指数CRI，发光光谱.
输出的测量项报表中的 图表包括： Cdens-V， Cdens-L， Cdens-LumE， Cdens-EQE， CIE1931， Spectra
软件界面
软件介绍
I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长，进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长，进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值，低于下限值时仅测电流电压，超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数，下次测量时可以直接调用
I-V-L的测量数据
测量的结果包括：亮度L(cd/m2)，电流效率(mA/cm2)， 发光效率，外量子效率，色坐标(x，y)，色温，显色指数CRI，发光光谱.
输出的测量项报表中的 图表包括： Cdens-V， Cdens-L， Cdens-LumE， Cdens-EQE， CIE1931， Spectra
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