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全谱谱线图
CCD+CMOS全谱分析技术
丰富的谱线信息,分析灵敏线更多,保证分析的准确度;
基于全谱测量的数据,能够正确区分背景和谱线,有效提高测量精度;
智能选择合适的灵敏线,通过多谱线结合技术,实现低中高含量段的检测需求;
基于全谱测量数据的多峰拟合技术,有效消除谱线干扰,实现精确测量。
CMOS线阵传感器
的实时智能漂移校正技术
在分析过程中实时进行光谱漂移校正,增强仪器稳定性;
减少标准化校正次数,延长校正周期;
自动完成仪器校正,操作更加简便。
谱线漂移校正
*的CMOS检测技术优于CCD
CMOS相比CCD具有更高的灵敏度和响应速度;