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J-RAS离子迁移试验装置代理
追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成.
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统,并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。
作为系统构成我们准备了40CH/100CH型,可以根据您的预算、设置空间来进行选择。
高机能
*用PC设定试验条件之后,就可以不使用PC来继续进行试验。
*使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制,试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。
*HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的
*没有通信机能的HAST/试验槽,也可以通过模拟输入来监视湿度
J-RAS离子迁移试验装置产品优势
简单/便利
△采用高性能驱动计测,测试时焊接工序大幅减少。
△软件设计简单明了,能够非常直观得操作。
△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。
△测试中,设备可以单独运行,电脑电源切断也不受影响。
高性能&高机能
△因为每个通道都单独配有电压/计测电路,可以做到16ms的计测间隔。
→迁移现象的检测能力更高,对产品品质把控更精准。
△一台电脑最大可以增设400通道。
△每个通道可以设定不同的电压。
可靠性更高&操作更简洁
△具有自身诊断机能,把异常计测防范于未然。
△配有CF卡,以防设备故障数据丢失。
△每个单元独立,其中一个单元损坏,可以单独拆卸维修,而不影响其他通道使用。
△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)用途
△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。
△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置,可以在多领域利用。
实例
△测试难度大的高阻值也能除去干扰,清晰得进行测试。
△16msec的高速抽样处理,不会漏掉任何一个数据。
△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。
计测Channel数 | 10CH | ||
计测电阻值范围 | 2kΩ~10TΩ | ||
DCbias印加 | 电压范围 | 2范围 (1.0~30.0V,30.1~300.0V) | |
电压范围设定 | 1组(5CH) | ||
电压级别设定 | Channel个别 | ||
设定分解能 | 0.1V | ||
设定精度 | ±{0.3%(F.S.)+0.5}V | ||
最大输出电流 | 700μA/CH | ||
DCbias计测 | 计测范围 | 2范围 (0~33V,0~330V) | |
计测精度 | ±{0.3%(F.S.)+0.5}V | ||
计测分解能 | 0.1V~(整数+小数点以下1行表示) | ||
AD转换器 | 24bits⊿∑AD转换器/CH | ||
计测速度 | 16msec/10CH | ||
电流计测 | 计测方式 | CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式 | |
计测范围 | 5范围(~500μA,~50μA,~2.5μA,~125nA,~6.25nA) | ||
计测范围设定 | CHANNEL个别或者自动范围 | ||
计测精度 | ±0.3%(F.S.) | ||
计测分解能 | 1pA~(有效数字4行表示) | ||
AD转换器 | 24bits⊿∑AD转换器/CH | ||
计测速度 | 16msec/100CH | ||
制御Channel数 | 5~100CH(5Channel单位) | ||
数据收录 | 试验制御单位 | 1组(5CH) | |
试验设定小时 | 1分~9999小时 | ||
收录间隔(定期) | 1分~60分 | ||
收录间隔(ECM发生时) | 16msec | ||
收录媒体 | Compact flashcard | ||
其他 | 主PC通信机能 | LAN接触口×1 | |
环境试验机通信机能 | RS-232C接触口×2 | ||
外部输入1 | 接点输入×4(联动装置,紧急停止制御可) | ||
外部输入2 | 电压输入(1-5V)×2,电流输入(4-20mA)×2(温度·温度记录可) | ||
自动校正 | bias输出补正,异常leak电流检测 |
品牌 | 其他品牌 |
产地 | 进口 |
加工定制 | 否 |
使用电源 | AC100V 50/60Hz |
计测Channel数 | 10CH |
计测电阻值范围 | 2kΩ~10TΩ |
制御Channel数 | 5~100CH(5Channel单位) |
主PC通信机能 | LAN接触口×1 |
环境试验机通信机能 | RS-232C接触口×2 |
自动校正 | bias输出补正,异常leak电流检测 |
计测线 | TRIAXIAL线 (耐热温度:200度) |