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高精度薄膜测厚仪 赛成CHY-CA 台式薄膜测厚仪 硅片厚度测量仪
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2021-08-28
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产品简介
高精度薄膜测厚仪赛成CHY-CA台式薄膜测厚仪硅片厚度测量仪在工业生产过程中，测厚仪的出现为很多人提供了工作上的便利，作为一种测量工具，测厚仪主要是用来对一些材料或物体的实际厚度进行测量，比如钢材，薄膜等
详细信息
高精度薄膜测厚仪 赛成CHY-CA 台式薄膜测厚仪 硅片厚度测量仪
在工业生产过程中，测厚仪的出现为很多人提供了工作上的便利，作为一种测量工具，测厚仪主要是用来对一些材料或物体的实际厚度进行测量，比如钢材，薄膜等。
CHY-CA测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
产品特征
- 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
- 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
- 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
- 可选系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定
- 实时显示测量结果的值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
- 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
- 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
- 5寸触摸屏操控，方便用户进行试验操作和数据查看
- 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据
技术指标
测试范围 0 ~ 2 mm（常规）
0 ~ 6 mm；12 mm（可选）
分辨率 0.1 μm
测量压力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积 50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距 0 ~ 1000 mm
进样速度 0.1 ~ 99.9 mm/s
电源 AC 220 V 50 Hz
外形尺寸 461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H)
净 重 25 kg
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