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HVUα_1000V 1000V离子迁移实验装置
具体成交价以合同协议为准
2024-04-15深圳市
- 型号
- HVUα_1000V
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产品简介
高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録
1000V离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。
详细信息
高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録
高電圧絶縁信頼性試験装置 HVUαシリーズ
製品の特⻑
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100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)
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CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加
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CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能
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機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し
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短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従
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トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)
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専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能
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5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能
用途
⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価。
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メイン画面
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テキストデータ画面
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グラフ画面
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ログ表示
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対応OS：WindowsXp、7、8、10
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