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冷热冲击试验箱

高低温冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车 配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航太、兵工业、BGA、PCB基扳、电子晶片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的元件，可作为其产品改进的依据或参考。

ZT-225E

内箱尺寸 500x750 x 600mm

外箱尺寸约 2100x2200x2050mm

冲击温度范围-20℃~+150℃ 可调

温度冲击时间5分钟内完成温度冲击

蓄冷区温度范围-60℃ 可调

蓄热区温度范围170℃ 可调

降温速率1℃min （空载非线性）

升温速率2-3℃min （空载非线性）

温度稳定度±0.5℃

温度偏差± 1℃

电源电压380V 13KW

三区温度实验区 、预热区、预冷区

实验箱测试区则放测试物进行测试

预热区高温区负责蓄热

预冷区低温区负蓄冷