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LA-S年轮分析仪

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2021-06-01
型号
杭州万深检测科技有限公司

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自动菌落计数仪;全能型植物图像分析系统;种子自动数粒分析仪;抑菌圈测量;植物年轮分析系统;多用途叶面积仪;植物根系分析系统;瓜果剖切面分析;米质判定仪;LED芯片计数仪;烟雾检测监控系统;颗粒计数分析仪
产品简介
LA-S年轮分析仪
详细信息

1.植物年轮测量分析:
   1)可自动判读年轮数
   2)各年轮平均宽度
   3)早材及晚材宽度
   4)各年轮切向角度和面积
   5)可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界,以及识别出很窄的树轮
   6)可交互删除伪年轮、插入断年轮,可自动生成上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力
   7)具有年轮图线数据【暂存】【加载】特性,以便日后不断地分析比对。具有【精细】分析的“软件体视镜”特性。有路径端点【吸附】定位特性,对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑,以及可将分析结果图线保存。图线上调整角度具有跟随特性,画路径的时候可【取消】(右键菜单点【取消】或直接按【Del删除】键)
   8)可直接分析达到2万万像素(2亿像素)的超高精度扫描的超大幅面年轮图像。具有对年轮宽度<0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。
   9) 可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像
2. 人工辅助修正:图像可放大缩小和局部观察,可实现鼠标区域选择统计。
3.自动杂质剔除:根据尺寸等方面的区别,进行自动杂质剔除。
4.辅助测量功能:
尺寸标定:自带标定功能,实现半自动的尺寸标定,XY向可分别标定修正;
长度测量:具有跟随放大镜功能,通过鼠标拖动精确测量;
5.数据报表导出:分析结果能导出到Excel表,以便存档和统计。还可输出分析标记图,以便发表论文用。
LA-S型植物年轮分析系统标配光学分辨率1800 dpi×3600 dpi、A3的中晶FileScan 1860XL plus高速扫描仪。植物图像分析测量精度(由扫描仪决定,可软件部分校正):X向≤±0.5 %,Y向≤±0.25%;长度测量重现性误差<±0.25%;面积测量重现性误差<±0.25%;台间测量差异<±0.25%。测量总时间:30~60秒。用户需另配计算机。


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