BWGP-2000型变温光谱测试系统（高低温光谱系统） 

          BWGP-2000变温光谱测试系统（高低温光谱系统） 可以测试样品在低温和高温下光谱发射的变化情况，该仪器配置不同系能得光谱可以用于透射、反射、吸收光谱是样品谱与参比谱的比值，会降低原始光谱的信噪比，因此需要光谱仪具有较高的信噪比；同时为了获取更多信息，需要光谱仪具有宽泛的光谱范围。而荧光强度较弱，属于弱光信号，为了探测荧光光谱，一般需要高灵敏度的光谱仪。需要对微米尺度的光谱信号进行采集，这需要光谱仪具有微弱光信号的检测能力。BWGP-2000是一款适合多种科研应用的光谱仪。

一、产品主要用途：

• 用于高低温下半导体发光波长在线检测
• 用于高低温下手机面板透过率检测
• 用于高低温下实验室微区样品透反射率检测
• 用于高低温下薄膜透过率检测其他化合物检测
• 用于高低温下纳米复合材料上转换荧光中的应用
• 用于高低温下测试物体的颜色检测
• 用于高低温下黑硅光电探测器研究中的应用
• 用于高低温下液晶显示研究中的应用

二、产品主要特点：

• 高低温测试系统可以任意设置温度
• 电脑软件自动显示温度和光谱图

3、可以灵活搭配不同类型的光谱仪

二、主要技术参数：

1、温度：-150℃-600℃

2、探测范围：200~1100nm

3、波长分辨率：0.7 nm

4、光学分辨率：z高 0.12nm (FWHM)

5、探测器： Hamamatsu，S10420 背照式

6、动态范围： 6,000:1

7、信噪比： 800:1 (饱和时)

8、杂散光： < 0.1% @ 600nm

9、光纤接口： SMA905

10、数据传输： USB-B，支持 USB2.0 通讯协议，480Mbps 传输速度

11、外部触发： 4 种触发模式

12、测温精度：0.1℃

13、外形尺寸：L360mm*W370mm*H510mm

14、净    重：22KG