高级会员第 6 年生产厂家
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具体成交价以合同协议为准
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一、可程试高低温测试设备简介:
可程式高低温试验箱广泛适用于电工、电子产品、元器件、零部件及其材料在高低温环境下储存、运输和使用时的适应性试验,以及温度渐变试验。还可以对电子元器件进行应力筛选试验。
二、可程试高低温测试设备技术参数:
型号 | BS-80D | BS-150D | BS-225D | BS-408D | BS-608D | BS-800D | BS-010D |
内箱尺寸W*H*D(mm) | 400*500*500 | 500*600*500 | 500*750*600 | 600*850*800 | 800*950*800 | 1000*1000*800 | 1000*1000*1000 |
外箱尺寸W*H*D(mm) | 600*1650*1100 | 700*1700*1200 | 700*1850*1300 | 800*1950*1500 | 1000*2050*1500 | 1200*2100*1500 | 1000*1000*1000 |
温度范围 | -70-+100℃(150℃) (A10℃ B0℃ C-20℃ D-40℃ E-50℃ F-60℃ G-70℃) | ||||||
温度解析度/均匀度 | 0.01℃ ±1℃ | ||||||
温度控制精度/波动度 | ±1℃ ±0.5℃ | ||||||
升温/降温时间 | 约3℃/min 约1℃/min (其他条件可定制) | ||||||
电源 | AC220V+±10%V 50HZ/60HZ AC380V+±10%V 50HZ/60HZ |
三、满足标准:
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温
2. GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
3. GJB150.3A-2009 高温试验方法
4. GJB150.4A-2009 低温试验方法
5. GB2423.22-2008电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Nb:规定温度变化速率的温度变化
6. GBT 2424.5-2006 电工电子产品环境试验 温度试验箱性能确认
7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件
四、箱特点:
1、高质感外观,箱体结构。制冷系统、控制技术均做较大改进,技术指标更稳定,运行更可靠,维修更方便。
2、真空双层玻璃:大视窗设计,窗口有防汗电热器装置,可防止水气凝结水滴,及高亮度照明。
3、控制器采用进口LED显示屏,可同时显示测定值及设定值、时间等。
4、可与电脑连接USB/RS232接口,可将温度湿度 曲线数据*记录
5、程序循环:全部循环回,部分循环、