SME-40PF 电子元器件台式恒温恒湿试验箱40L高低温箱

电子元器件台式恒温恒湿试验箱40L高低温箱

产品详情
本设备为台式紧凑型恒温恒湿试验箱，内箱容积为40升。它采用高精度温湿度控制系统，专为电子元器件的可靠性测试设计。箱体结构坚固，内胆采用优质不锈钢材质，外箱经喷塑处理，耐腐蚀且易于清洁。设备配备大型可视观察窗和内置照明，方便实时监控测试样品状态，是实验室与产线品质验证的理想工具。

电子元器件台式恒温恒湿试验箱40L高低温箱

用途
主要用于模拟自然界高温、低温、湿热等气候环境，对电子元器件（如电容、电阻、IC芯片、连接器、PCB板等）进行加速老化试验、耐候性试验和可靠性筛选。通过测试，可提前暴露产品在环境下的潜在缺陷，评估其性能稳定性和使用寿命，为产品研发、质量控制及出厂检验提供关键数据支持。

技术参数

• 内箱容积：40升

• 温度范围：-40℃ ～ +150℃

• 湿度范围：20% ～ 98% R.H.

• 温度波动度：≤ ±0.5℃

• 温度均匀度：≤ ±2.0℃

• 湿度波动度：≤ ±2.5% R.H.

• 升温速率：平均约 3℃/min

• 降温速率：平均约 1℃/min

• 内箱尺寸（宽×深×高）：约 350×320×350 mm

• 外箱尺寸（宽×深×高）：约 580×550×750 mm

• 电源规格：220V / 50Hz

工作原理
设备采用平衡调温调湿控制系统（BTHC）。制冷系统通过压缩机、冷凝器、节流装置和蒸发器实现箱内降温与除湿；加热系统利用镍铬合金电热丝进行升温；加湿系统采用蒸汽发生器或浅水盘加湿方式。微电脑控制器依据设定的温湿度值，对比箱内传感器实时反馈的信号，通过PID算法自动调节加热、制冷、加湿及除湿组件的输出功率，从而动态维持箱内环境恒定。

性能特点
采用国际品牌压缩机和制冷配件，确保长期运行稳定可靠。独特的送风循环系统保证箱内温湿度分布均匀。设备具备超温、超压、缺水、过流等多重保护功能，运行安全无忧。标配RS232/485通讯接口，支持远程监控与数据导出，操作便捷高效。

技术优势
核心优势在于其电子膨胀阀模糊控制技术，相比传统热平衡法，节能约30%且控制响应更快。低温工况下具备自动除霜功能，有效避免蒸发器结冰影响测试精度。控制器支持100组以上程式编程，可自由设定循环、跳转及斜率控制，满足复杂多变的测试要求。

满足标准
符合GB/T 2423.1-2008（高温试验）、GB/T 2423.2-2008（低温试验）、GB/T 2423.3-2016（恒定湿热试验）、GB/T 2423.4-2008（交变湿热试验）、IEC 60068-2-78、MIL-STD-810F等国内外主流环境试验标准，确保测试结果的专业性与公信力。

应用场景
广泛应用于半导体封装测试厂、SMT贴片车间、汽车电子研发中心、通信设备制造商及第三方检测机构。特别适用于对空间占用敏感、需放置于实验台面操作的场景，如研发初期的小批量验证、来料检验及失效分析等。