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HS-CR-1差热分析仪
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2022-11-10上海市
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产品简介
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详细信息
差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在 DTA 试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引 起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结 构的破坏和其他化学反应该设备易于校准，使用熔点低，快速可靠，应用范围非常广，特别是在材料的研发、性能检测与质量控制上。材料的特性，如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等。符合国标GB/T2951.42-2008、GB/T15065-2009、GB/T17391-1998、GB/T19466.6-2009。
1、全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性仪器主控芯片
2、仪器可采用双向控制（主机控制、软件控制），界面友好，操作简便
3、采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更加精准
4、采用USB双向通讯，操作更便捷,采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，界面更友好
5、采用专业合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化
6、采用进口芯片，稳定性高
参数 | HS-CR-1 | HS-CR-2 |
温度范围 | 室温~1500℃ | 室温~1150℃ |
显示方式 | 24bit色，7寸 LCD触摸屏显示 | |
温度分辨率 | 0.001℃ | |
温度波动 | ±0.1℃ | |
升温速率 | 0.1~100℃/min | |
温度重复性 | ±0.1℃ | |
温度精度 | ±0.1℃ | |
DTA量程 | ±2000μV | |
DTA分辨率 | 0.01μV | |
DTA解析度 | 0.01μV | |
程序控制 | 可实现四段升温恒温控制，特殊参数可定制 | |
曲线扫描 | 升温扫描&恒温扫描 | |
气氛控制气体 | 两路自动切换（仪器自动切换） | |
气体流量 | 0-300mL/min | |
气体压力 | ≤0.5MPa | |
数据接口 | 标准USB接口 | |
参数标准 | 配有标准物质（铟，锡，铅）一种，用户可自行校正温度 | |
仪器热电偶 | 三组热电偶，一组测试样品温度，一组测试内部环境温度，一组炉体过热自检传感器 | |
工作电源 | AC220V/50Hz | |
外形尺寸 | 440*440*320 （长宽高）单位mm | |
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