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90Plus Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪

具体成交价以合同协议为准

2020-04-09北京市
型号
参数
产地:国产 加工定制:是
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粒度仪
产品简介
90Plus Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度测量部分使用动态光散射技术(Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。
详细信息

工作原理90Plus Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪

纳米粒度测量部分使用动态光散射技术(Dynamic Light Sacttering, DLS), 由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器(digital correlator)

技术处理脉冲信号,将光强的波动转化为相关函数。自相关函数包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散速度信息,进而利用Stokes-Einstein方程计算得出粒子的扩散系数和粒子粒径Rh及其分布:

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ZetaPlus电位测量采用电泳光散射原理:带电颗粒在外加电场作用下进行运动,电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。90Plus Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪

 

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技术优势-纳米粒度测量部分:

1.   强大的TurboCorr数字相关器:*进的相关器,拥有522个物理通道,相当于超过1010个线性通道,25nS-1310S动态采样时间及延迟时间分配,支持互相关测量,支持多路信号输入(详见相关资料)。

2.   采用35mW大功率固体激光器,在保证稳定性的同时有效地提高了信噪比,更加有利于对极小粒度及极稀体系的测量(如图1)。由于光束的良好聚焦,不会对体被测体系造成热运动影响,同时保证了更小的散射体积。

3.   高线性范围的PMT检测器和高灵敏的APD检测器根据客户实际实验要求选则。APD以其高灵敏度适用于纳米颗粒的测量;PMT检测器以其良好的线性范围适合测量分布较宽的样品体系。

4.   样品池温度控制范围: -5 to 110°C± 0.1°C

 

技术优势-Zeta电位测量部分:

1.       *样品槽设计:

传统样品槽电极设计,使样品槽内不可避免产生反电泳运动的电渗现象,所以测量必须在电渗运动为零的稳定层上进行。寻找稳定层增加了仪器设计的复杂性,用户校准也很麻烦,精度也难以保证。布鲁克海文公司开发的新型样品槽为开放式,从根本上杜绝了电渗现象。测试精度有了充分保证,用户也省去了校准、标定、及费心保养等麻烦,亦无交叉污染之忧。

2.   电极设计:

鉴于使用传统毛细管电泳方法测量Zeta电位存在的种种缺陷,布鲁克海文公司开发设计了一代的插入式电极。该电极使用纯金或纯钯做为电极材料,因此电极寿命极长;同时,由于采用了开放式的设计,电极的清洗变得简单易行;更重要的是,对于被测体系驱动能力关键的是所加的电场强度(而不是电压),由于这种电极的极板间距离相对更小,这样就使得施加低电压得到高场强成为可能,从而减小了测量过程中使用高电压所产生的电流对胶体样品的污染,

3.   内置两重精密的温度控制单元,样品温度控制范围: 5° C to 90° C(选项:-2°C to 102°C)。

4.   高线性范围的PMT检测器和高灵敏的APD检测器根据客户实际实验要求任选。

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产品参数

产地 国产
加工定制
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