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一.介电常数主要特点:
1. 平板电容器
极片尺寸:φ25.4mm\\φ50mm
极片间距可调范围和分辨率:≥10mm,±0.01mm
2. 园筒电容器
电容量线性:0.33pF / mm±0.05 pF
长度可调范围和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3. 夹具插头间距:25mm±1mm
4. 夹角损耗角正切值:≤4×10-4(1MHz时)
空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板,薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电尝数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。
☆接线简单(正接法两根线,反接可使用一根线),所有电缆线均有接地屏蔽,所以都能拖地使用,测量电压缓升、缓降,全自动测量,结果直读,无须换算。
☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。
☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。
☆ 抗*力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路,将矢量运算法与移相法结合,有效地消除强电场干扰对测量的影响,适用于500kV及其以下电站的现场试验。
☆CVT测量 *自激法测量CVT功能,不需外加任何设备,可完成不可拆头CVT的测量。一次接线(三根电缆,不用倒线),一个测量过程(大约1分钟),两个zui终测量结果(C1和C2的介损及电容值)。测量过程中文显示,能实时监测自激电流值和试验电压(高压)值。能消除引线对测试的影响,测量结果准确可靠。
二.介电常数主要技术特性:
1.Q值测量范围:2~1023
2.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
3.电感测量范围:14.5nH~8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
4.电容直接测量范围:1~460pF
5.主电容调节范围: 30~500pF
6.电容准确度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%
7.信号源频率覆盖范围10KHz-60MHz或200KHz-160MHz
8、型号频率指示误差:3*10-5 ±1 Q值合格指示预置功能范围:5~1000
9.Q表正常工作条件a. 环境温度:0℃~+40℃ b.相对湿度:<80%; c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
10.其他a.消耗功率:约25W; b.净重:约7kg; c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
11.产品配置:a.测试主机一台;b.电感一套;c.夹具一 套
介质损耗和介电尝数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电尝数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电尝数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
质损耗和介电尝数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电尝数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电尝数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。