一．简介：

ST-50型冲击试样缺口投影仪，是根据广大用户的实际需求和GB/T229-94«金属夏比缺口冲击试验方法»中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种检察夏比V 型和U 型冲击试样缺口加工质量的光学仪器。该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投影到投影屏上，与投影屏上冲击试样V 或U型缺口标准样样板图对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，其优点是操作简便，检查对比真观，效率高。

该仪器还可用于机械零件的外形轮廓，防治物纤维，生物切片分析，工量*检验，仪表元件和半导体器件的投影检测，操作简便，检查对比直观、效率高；

二．主要参数

1.     投影屏直径：180mm

2.     工作台尺寸：  方工作台尺寸：110＊125mm

                 园工作台直径：90mm

                 工作台玻璃直径：70mm

3.     工作台行程：

         纵向：±10mm

         横向：±10mm

         升降: ±12mm

4.     工作台转动范围：0~360º

5.       仪器放大倍率：50X

        物镜放大倍率：2.5X

        投影物镜放大倍率：20X

6.     光源（卤钨灯）：12V

7.       电源：220V   50HZ

8.       外形尺寸：515＊224＊603mm

9.       重量：18kg