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HJS-I 介质损耗（介电常数）测试系统-导电性能测定仪
具体成交价以合同协议为准
2019-08-15长春市
- 型号
- HJS-I
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产品简介
高频介质损耗（介电常数）测试系统依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的Z佳解决方案。
详细信息
介质损耗(介电常数)测试系统
高频介质损耗(介电常数)测试系统依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的*解决方案。
由HJS-I型高频Q表、AS916测试装置（夹具）、数据采集和tanδ自动测量控件（装入HJS-I型高频Q表软件模块)、及HLKI-1型电感器组, 液体杯(可选,用于测试液态材料。
配置方案及报价如下表:
主机 | HJS-I高频Q表 |
测试装置 | AS916 |
HLKI-1型电感器组 | √ |
|
|
1 HJS-A+AS916+HLKI-1电感组特点:
测试频率范围 | 10KHz-70MHz, LCD显示,6位有效数 ,DDS数字合成 |
Q值测量范围 | 1～1000四位数显，±0.1Q分辨率 |
可调电容范围 | 28～490pF 0.1pF分辨率 |
电容测量误差 | ±0.5%±0.5pF |
Q表残余电感值 | 约20nH |
S916测试装置 | 屏幕5位数显，极片为φ38和φ50二选一,支持液体杯测试, 液体杯测试极片为φ38 |
数据采集和tanδ自动测量控件 | 支持
|
技术参数
（1）Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023。
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c．标称误差
频率范围 10kHz～10MHz；
固有误差 ≤5％±满度值的2％；
工作误差 ≤7％±满度值的2％；
频率范围 10MHz～70MHz；
固有误差 ≤6％±满度值的2％；
工作误差 ≤8％±满度值的2％。
（2）电感测量范围：14.5nH~8.14H
（3）电容测量：1~ 460
项 目
直接测量范围 1～460pF
主电容调节范围 30～500pF
准 确 度 150pF以下±1pF；
150pF以上±1％
（4）信号源频率覆盖范围
项 目
频率范围 10kHz～70MHz
频率分段（虚拟） 10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～70MHz
频率指示误差 3×10-5±1个字
（5）Q合格指示预置功能
预置范围：5～1000。
（6）Q表正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V， 50Hz±2.5Hz。
4、设备配置：
a.测试主机一台；
b.电感9只；
c.夹具一套
