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BA3 BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪
具体成交价以合同协议为准
2024-08-22上海
- 型号
- BA3
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产品简介
Duma BeamAnalyzer刀口式光束质量分析仪，采用刀口式分析原理，可以对连续激光的实时监控，可以精准测量光束强度分布，宽度，位置，功率，基本光束形状以及光束质心和椭圆率的检测。探测器头由多个刀刃组成，以扫描光束并捕获激光的强度分布。可检测190nm到2700nm的光谱范围，有效探测面积为3mm至10mm，可检测光束尺寸最小为3μm，具备高达0.1μm分辨率。
详细信息
12 bit A/D l 实时检测光束质量、尺寸和高斯拟合 l 测量光束的中心、椭圆度和功率 l 可保存快照图像 l<span color:#383838;"="" style="user-select: text !important"> 自动验证分析报告 |
主要参数：
传感器类型 | Si/UV-Si/IR/IRE | |
光谱范围 | Si UV-Si IR IRE | 350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm |
刀片数 | 3（BA3头） 7（BA7头） | |
光束尺寸范围 | BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(椭圆形) BA7-Si和BA7-UV（圆形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5 | 3µm-5mm 15µm-10mm 15µm-9mm 3µm-3mm 15µm-3mm 3µm-5mm 15µm-5mm |
光束宽度分辨率 | >100µm <100µm | 1µm 0.1µm |
光束宽度精确度 | ±2% | |
功率范围 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | 10µW-1W(有衰减片) 10µW-5mW(无衰减片) |
功率精确度 | Si和UV-Si探头 InGaAs探头 | ±5% ±10% |
功率分辨率 | 0.1µW | |
位置精确度 | ±15µm | |
位置分辨率 | 1µm | |
饱和度 | Si和UV-Si探头 | 0.1W/cm2(无衰减片)，20W/cm2(NG9) |
测量速率 | 5Hz | |
温度 | 0℃-35℃ | |
PC接口 | USB2.0 |
选型：
BA3-Si-USB: 3-blades, Si detector 5mm circular
BA7-Si-USB: 7-blades, Si detector 9mm square
BA3-UV-USB: 3-blades, UV-Si detector 5mm circular
BA7-UV-USB: 7-blades, UV-Si detector 9mm circular
BA3-IR3-USB: 3-blades, InGaAs detector 3mm circular
BA3-IR3E-USB: 3-blades,InGaAs Enhanced 3mm circular
BA7-IR3-USB: 7-blades, InGaAs detector 3mm circular
BA7-IR3E-USB: 7-blades, InGaAs Enhanced 3mm circular
BA3-IR5-USB: 3-blades, InGaAs detector 5mm circular
BA7-IR5-USB: 7-blades, InGaAs detector 5mm circular
可选附件：
SAM3-B Beam Sampler: with mounting adapter Sampling reduction factor 0.0016 average
BA-Fiber: A fiber adapter with an FC connector
BA-Mount: A mount enabling head rotation about the optical axis
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