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CONDUCTIVE DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating
DIAMOND COATED Probe, silicon cantilever for non-contact-/tapping-mode, detector side: Al-coating
金刚石探针,高长径比探针,硅悬臂非接触式- /敲击模式,镀层: 悬臂背面镀铝
尖形状: 高长径比; 悬臂梁: 频率 190 kHz 力常数 48 N/m 长度 225 μm; 应用范围:高长径比探针
高长径比探针,镀层: 无; 针尖形状: 高长径比; 悬臂梁: 频率 190 kHz 力常数 48 N/m 长度 225 μm; 应用范围:高长径比探针
导电金刚石探针,高长径比探针,硅悬臂非接触式- /敲击模式,镀层: 悬臂背面镀铝