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X荧光光谱仪特征
性能特点
1. 使用一体化微型端窗X光管,大面积Si-PIN探测器,具有高信噪比的电子线路单元,使仪器具有与台式X荧光光谱仪相当的测 试性能;
2. 样品腔为封闭圆形结构,具有良好的射线屏蔽性能;
3.四组可方便切换的滤光片,使仪器不论全元素分析还是ROHS检测,对应各种基材测量不同的元素,都能得到理想的效果;
4.主机使用PDA掌上电脑,使用无线蓝牙连接,轻巧方便,测试数据尽在掌中;
5. 包装箱与仪器一体化设计,紧固防水,对恶劣野外环境也能应付自如;
6. 大容量锂电池供电,仪器可独立工作足够长时间,也使用交流转直流适配器,连接交流电源工作。
技术指标
元素分析范围从钾(K)到铀(U)。
分析含量一般为1ppm到99.9%。
可测试镀层厚度zui薄至0.05um。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回归程序。
多次测量重复性可达0.1%。
*工作稳定性为0.1%。
标准配置
与仪器一体化设计的包装箱。
四组可切换滤光片。
激光定位装置。
带铅屏蔽罩封闭样品腔。
SI-PIN探测器。
信号检测电子电路。
一体化微型端窗X光管。
无线蓝牙连接PDA掌上电脑。
自带充电电路的大容量锂电池和交流转直流适配器。
X荧光光谱仪特征