高级会员第 5 年经销商
参考价:
具体成交价以合同协议为准
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FLS 106 IC set ,IC高频近场扫描仪可以在电子组件的集成电路上方,借助ICR-近场微探头对频率在6GHz以内的高频磁场或电场进行高分辨率(50-100µm)测量。 使用近场探头和带有SH 01探头支架的场源 使用ICR-探头(旋转单元) 工作状态下对集成电路的采样 四轴定位系统 可提供一个扫描台 GND/CB 和附件随后交付 顾客进行测试时用到的其他附件在协商后也包含在供货范围
FLS 106 IC set IC高频近场扫描仪内容:
1x FLS 106 IC
1x CS-Scanner, ChipScan-Scanner
1x GND 25
1x DM-CAM
1x Rotary unit
1x DM-CAM holder.3, SMA
1x FLS 106 IC acc
技术参数:
电源电压 |
110 / 230 V |
接口 | USB |
x,y,z 轴 | |
大过程路径 | (400 x 600 x 125) mm α-Rotation ±180° |
小过程路径 | (20x 20 x 20) µm α-Rotation 1° |
移动速度 | (65x65x65) mm/s α-Rotation 90°/s |
重量 |
75 kg |
尺寸 (L x W x H) | (1030 x 775 x 990) mm |
FLS 106 IC主机
源电压 |
110 / 230 V |
接口 | USB |
x,y,z 轴 | |
大过程路径 | (400 x 600 x 125) mm α-Rotation ±180° |
小过程路径 | (20x 20 x 20) µm α-Rotation 1° |
移动速度 | (65x65x65) mm/s α-Rotation 90°/s |
重量 |
75 kg |
尺寸 (L x W x H) | (1030 x 775 x 990) mm |
ChipScan-Scanner 软件
ChipScan-Scanner软件用于自动测量电子组件的近电场和近磁场,该软件可以在电子组件上方的某一平面或某一空间范围内进行检测,可以显示测量结果。从而精确快速的评估近场,并对测量结果进行多种处理和分析;还能方便地输出图像和数据,例如文档或进一步的数学分析。
系统要求 |
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操作系统 | Windows 7 64-bit (latest service packs) |
显示器分辨率 | (1280 x 1024) px |
硬盘容量 | 1 GB |
外部设备 | CD drive for installation |
推荐的系统要求 |
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处理器 | 英特尔Core i7 2.7 GHz |
内存 | 8 GB |
显示卡 | AMD Radeon 7950 |
显卡内存 | 3 GB |