一、电子产品冷热冲击试验箱简介：

  冷热冲击试验箱根据待测试样品的特殊性，分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击，本产品可做冷热冲击，也可以做单独高温或低温使用。广泛应用于航空航天、电子电工、仪器仪表、汽车、通讯、集成电路、半导体等领域，可发现产品潜在缺陷，做应力筛选试验，提高产品的可靠性和进行产品质量控制。

二、电子产品冷热冲击试验箱技术参数：

三、汽车部件冷热冲击试验箱​​满足标准：

1. GJB150.5A-2009温度冲击试验

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009温度冲击试验

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971电工电子产品环境试验

第2部分:试验方法温度变化试验导则

4. GJB360B-2009温度冲击试验

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验A：低温

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

7.GB/T 10589-2008 低温试验箱技术条件

8.GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件