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激光功率测量系统 视觉系统

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2024-04-22上海市
型号
参数
品牌:其他品牌 产地:国产 加工定制:是
上海倍蓝光电科技有限公司

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专注于光电领域仪器设备的定制开发、代理销售与系统集成业务包括仪器设备的维修和周边产品的销售,为国内科研及制造业用户提供全面的服务
产品简介
激光功率测量系统可为300到1800nm波长区域内的激光提供光功率从15uw到200W的激光功率测量。针对一些特殊的应用,我们亦可通过增加ND滤波片进行衰减。
详细信息

激光功率测量系统

适合激光光束测量

激光功率测量系统特点:

  • 积分球内部使用Spectraflect®, Infragold® 或 Spectralon® 涂料,可以降低激光方向对测试带来的影响

  • 坚固的光纤安装端口

  • 3种积分球尺寸可选:2,4,6英寸可选

  • 3种探测器可选:Silicon (Si), Germanium GE, InGaAs (IN)

  • 可为光纤或者光谱仪预留出安装端口

  • 校准结果可溯源至NIST

适于测量:

  • 激光

  • 激光二极管

  • 激光二极管组件

  • 发散的单色光源

蓝菲光学(LPMS)系列确保了以精确和可重现的方法测定被校准或发散的激光或激光二极管。LPMS积分球专门设计用于激光,是测量光辐射束总功率的理想选择。由于积分球*的几何结构,激光束功率测量不受激光束偏振及校准的影响。伴随积分球总处理能力产生的衰减也缓和了探测器的饱和。该系统可与开口一起使用或用一系列的可选的光纤适配器开孔,用于激光二极管组件或开口缩减接头。

该系统可为300到1800nm波长区域内的激光提供光功率从15uw到200W的激光功率测量。针对一些特殊的应用,我们亦可通过增加ND滤波片进行衰减。该系统的校准可溯源至国家标准技术研究所(NIST)。

积分球结构*,灵活且准确:内部涂层可选,带有两个探测器口,可测波长从250nm~20microns。直径为2、4、6英寸的积分球的涂层使用了蓝菲光学的Spectraflect®或Infragold®,或由我公司的高度漫反射材料Spectralon®制成。这些漫反射内层既经久耐用又能长期保持高稳定性,所以确保了精确的光积分。

辐射光束从入射口投射到积分球内,与积分球入口呈45°角处有一个探测器,可以限制探测器视场角,在不影响测试精度的情况下可以收集高度分散的光源。该系统可以测试波长范围从350~1800nm、功率从0.1 uw到几百瓦范围的激光,测试结果可溯源至NIST。

每套系统由激光功率积分球、灯杆和灯杆支架及基础组件、探测器组件、SC 6000可编程辐射计/光度计及多波段校准系统组成。第二个探测器开口方便用户灵活地安装一个额外的探测器组件或光谱仪,以分析较宽灵敏度的激光或分析光谱特性。



订购信息和规格

型号涂层硅探测器(Si)锗探测器(GE)铟镓砷探测器(IN)
LPMS-020-XX*-YYSFAS-02489-100AS-02489-300AS-02489-400

SLAS-02488-100AS-02488-300AS-02488-400

IGN/AAS-02490-300AS-02490-400
LPMS-040-XX-YYSFAS-02492-100AS-02492-300AS-02492-400

SLAS-02491-100AS-02491-300AS-02491-400

IGN/AAS-02496-300AS-02496-400
LPMS-060-XX-YYSFAS-02495-100AS-02495-300AS-02495-400

SLAS-02493-100AS-02493-300AS-02493-400

IGN/AAS-02497-300AS-02497-400


备注:SF= Spectraflect®, SL= Spectralon®, IG= Infragold®

系统包括:

  • 2英寸、4英寸或6英寸的激光功率积分球

  • 探测器:Si, Ge或InGaAs

  • SCC-PM校准器

  • SC 6000辐射度计/光度计

系统性能和属性

系统规格LPMS-020LPMS-040LPMS-060
积分球直径2 inch (5 cm)4 inch (10 cm)6 inch (14.4 cm)
入射口开口法兰直径0.5 inch (12.7 mm)1 inch (2.5 cm)1 inch (2.5 cm)
涂层漫反射率98% SF98% SF98% SF

99% SL99% SL99% SL

95% IG95% IG95% IG


1# 探测器开口 用于安装标准直径为12.7mm光学滤波片

2#探测器开口 选择性使用,与光纤连接做光谱分析,不用时可以盖住

激光功率测试系统校准标准

Si 探测器系统SCC-PM-SI 350 nm to 1100 nm 每25nm递增LPMS, Silicon
Ge 探测器系统SCC-PM-GE 800 nm to 1800 nm 每25nm递增LPMS, Germanium
InGaAs 探测器系统SCC-PM-IN 900 nm to 1700 nm 每25nm递增LPMS, InGaAs


探测器规格

探测器Silicon  硅Germanium 锗InGaAs 铟镓砷
有效面积4.5 mm219.6 mm27 mm2
范围190 - 1100 nm800 - 1800 nm900 - 1700 nm
峰值响应率: (A/W)0.5 a/w @950 nm0.9 a/w @1550 nm0.9 a/w @1300 nm


辐射度计/光度计规格

辐射度计/光度计SC 6000
功率110/220 VAC, 50/60 Hz
动态电流范围1 pA – 20 mA
通讯接口Ethernet


可选校准

单波长功率校准,SCC-PS:可选单波长校准激光功率计

订购时可特需的校准波长

可选附件

  • 光纤适配器

  • 探测器

  • 光学滤波片

  • 端盖


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产品参数

品牌 其他品牌
产地 国产
加工定制
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